[發(fā)明專利]應(yīng)用借助RFID-芯片可識別的輻射源來進行風化檢測在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410447101.3 | 申請日: | 2014-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN104422650A | 公開(公告)日: | 2015-03-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 貝恩德·魯?shù)婪?/a>;彼得·馬爾希 | 申請(專利權(quán))人: | 阿特拉斯材料測試技術(shù)公司 |
| 主分類號: | G01N17/00 | 分類號: | G01N17/00 |
| 代理公司: | 上海翰鴻律師事務(wù)所 31246 | 代理人: | 李佳銘 |
| 地址: | 德國靈森*** | 國省代碼: | 德國;DE |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 應(yīng)用 借助 rfid 芯片 識別 輻射源 進行 風化 檢測 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用來對樣品進行人工風化或耐光性檢測的裝置,并且涉及一種輻射源,用于這種對樣品進行人工風化或耐光性檢測的裝置。
背景技術(shù)
在進行人工風化的裝置中評估樣品(尤其是平面的材料樣品)的與風化有關(guān)的老化狀態(tài),其中該樣品經(jīng)受了人工風化。這種裝置為此目的通常具有風化腔,用來夾住待風化的樣品的夾持器件以及輻射源設(shè)置在該風化腔中,該輻射源用來給樣品施加輻射(尤其是UV-輻射)。
在這種對材料樣品進行人工風化或耐光性檢測的裝置中,大多應(yīng)對材料的使用壽命進行評估,該材料在應(yīng)用時持續(xù)地暴露在自然的天氣狀況下,并因此會在氣候影響(如太陽光、太陽熱量、濕氣和類似情況下)變壞。為了良好地模擬自然的風化情況,有利的是,在該裝置中產(chǎn)生的光線的光譜的能量分布盡量相當于自然的太陽輻射,由于此原因在這種設(shè)備中應(yīng)用氙氣放電燈作為輻射源。此外,基本上通過比自然狀況明顯更密集地照射該樣品,來快速地對材料進行老化檢測,從而加速了樣品的老化。因此,在相對較短的時間之后就能推斷出材料樣品的長時間-老化情況。
大部分在人工風化設(shè)備中研究的材料樣品都是由復合材料構(gòu)成。對這種復合材料來說,與風化有關(guān)的惡化基本上是由太陽輻射的UV-成份引起的。在此進行的光化學過程(即光子的吸附以及活躍狀況或自由根數(shù)的產(chǎn)生)與溫度無關(guān)。相反,以下與復合物或添加物的反應(yīng)步驟可能與溫度有關(guān),因此觀察到的材料老化同樣與溫度有關(guān)。
在迄今已知的風化檢測設(shè)備中,大多應(yīng)用氙氣放電燈作為輻射源,因為眾所周知借助它能夠相當好地模擬太陽光譜。但也可考慮在風化檢測設(shè)備中應(yīng)用其它的輻射源,例如金屬鹵素燈或熒光燈。
對于輻射源在風化檢測設(shè)備內(nèi)的運行來說重要的標準是其光譜質(zhì)量。重要的是,所用的燈在其整個使用壽命內(nèi)都產(chǎn)生所需的類似太陽光的光譜。此外,輻射源的使用壽命也是很重要的是,因為輻射源持續(xù)地在高負荷下運行,以便能夠高強度地照射樣品。因此,對于客戶來說很重要的是,輻射源在運行時具有始終不變的高質(zhì)量。但在當前情況下,在風化檢測設(shè)備中用了來源不同且因此質(zhì)量可能不同的輻射源,其中經(jīng)常在運行時由于輻射光譜與太陽光譜的過早偏離、輻射功率的過早下降甚至完全損壞,才能發(fā)現(xiàn)可能的不合規(guī)范的質(zhì)量。此外,目前在應(yīng)用可能已先前用過的輻射源時,使用者并不知道它的歷史(例如已執(zhí)行的運行小時),并且不能在繼續(xù)運行該輻射源時考慮這一點。
發(fā)明內(nèi)容
因此本發(fā)明的目的是,說明一種用來對樣品進行人工風化或耐光性檢測的裝置以及一種用于這種裝置的輻射源,能夠通過它們給客戶提供有關(guān)由他使用的輻射源的信息。
此目的借助獨立權(quán)利要求的特征得以實現(xiàn)。有利的改進方案和構(gòu)造方案是從屬權(quán)利要求的內(nèi)容。
本發(fā)明的重要理念在于,使應(yīng)用在風化設(shè)備中的輻射源具有對客戶來說更好的識別性。按現(xiàn)有技術(shù),客戶原則上不能將這些輻射源相互區(qū)分開來,客戶在風化檢測設(shè)備中使用輻射源時根本沒有下述信息,即該輻射源是否是制造商的原始產(chǎn)品和/或該輻射源是否先前已被使用過。這一點可通過以下方式實現(xiàn),即輻射源與合適的存儲裝置相連,有關(guān)輻射源的來源和/或歷史的數(shù)據(jù)能夠存儲或可存儲在該存儲裝置上。
因此,按本發(fā)明的用來對樣品進行人工風化或耐光性檢測的裝置具有風化腔和至少一個輻射源,在該風化腔中能夠設(shè)置至少一個樣品,該輻射源設(shè)置在風化腔中,其中每個輻射源都設(shè)置有存儲裝置,有關(guān)輻射源的數(shù)據(jù)可存儲或已存儲在該存儲裝置中。
按本發(fā)明的裝置的實施例,存儲在存儲裝置上的數(shù)據(jù)可用來授權(quán)和/或識別輻射源。例如可規(guī)定,在風化檢測設(shè)備中應(yīng)用輻射源之后這樣進行授權(quán),即檢測它是否是特定制造的原始產(chǎn)品。尤其能夠詢問特定的制造商專用的代碼,該代碼存儲在存儲裝置上。此外還可規(guī)定,以適當?shù)姆绞綄⑹跈?quán)檢測的結(jié)果通知使用者,并且必要時將檢測結(jié)果存儲或記錄在風化檢測設(shè)備的控制裝置中。還可規(guī)定的是,只有當授權(quán)檢測的結(jié)果為正時,才能使相關(guān)的輻射源投入運行,否則將自動地中斷該輻射源的運行,其方式例如是:阻擋朝向輻射源的電功率輸送。另一方面還可規(guī)定,只把有關(guān)授權(quán)檢測的結(jié)果通知客戶,但不管其結(jié)果如何都不會在輻射源運行時產(chǎn)生限制。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于阿特拉斯材料測試技術(shù)公司,未經(jīng)阿特拉斯材料測試技術(shù)公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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