[發(fā)明專利]無(wú)創(chuàng)的突觸可塑性檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410444442.5
• 申請(qǐng)日: 2014-09-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN105455807A
• 公開(kāi)（公告）日: 2016-04-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張晨;方貽儒
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海市精神衛(wèi)生中心
• 主分類號(hào): A61B5/0484
• 分類號(hào): A61B5/0484
• 代理公司: 上海精晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31253
• 代理人: 馮子玲

1.一種無(wú)創(chuàng)的突觸可塑性檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

將磁刺激發(fā)射裝置的單脈沖TMS設(shè)置為靶腦區(qū)簇神經(jīng)元的刺激模式；

將所述磁刺激發(fā)射裝置固定于待檢測(cè)腦部區(qū)域的皮質(zhì)處，以使得所述單脈 沖TMS對(duì)待檢測(cè)腦部區(qū)域進(jìn)行TMS刺激；

采用腦電信號(hào)采集裝置收集TMS刺激后的神經(jīng)元反應(yīng)信號(hào)并將所述神經(jīng)元 反應(yīng)信號(hào)傳輸至計(jì)算機(jī)；

對(duì)所述神經(jīng)元反應(yīng)信號(hào)進(jìn)行還原處理，得到腦地形圖以顯示突觸可塑性變 化情況。

2.如權(quán)利要求1所述的無(wú)創(chuàng)的突觸可塑性檢測(cè)方法，其特征在于，所述磁 刺激發(fā)射裝置的單脈沖TMS的頻率為20Hz。

3.如權(quán)利要求1所述的無(wú)創(chuàng)的突觸可塑性檢測(cè)方法，其特征在于，所述磁 刺激發(fā)射裝置的單脈沖TMS的頻率為100Hz。

4.如權(quán)利要求1所述的無(wú)創(chuàng)的突觸可塑性檢測(cè)方法，其特征在于，所述腦 電信號(hào)采集裝置采用多導(dǎo)EEG設(shè)備。