[發明專利]基于散射模型和非局部均值相結合的極化SAR相干斑抑制方法有效
| 申請號: | 201410442912.4 | 申請日: | 2014-09-02 |
| 公開(公告)號: | CN104240200B | 公開(公告)日: | 2017-06-06 |
| 發明(設計)人: | 鐘樺;焦李成;吳月珍;寇杏子;熊濤;王爽;侯彪;劉紅英;馬文萍;尚榮華 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學;西安航天天繪數據技術有限公司 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00 |
| 代理公司: | 西安吉盛專利代理有限責任公司61108 | 代理人: | 張恒陽 |
| 地址: | 710071 陜西省*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 散射 模型 局部 均值 相結合 極化 sar 相干 抑制 方法 | ||
1.基于散射模型和非局部均值相結合的極化SAR相干斑抑制方法,其特征是:包括如下步驟,
步驟一:將一幅極化SAR圖像X中的每個像素點i用3X3的矩陣表示,得到該極化SAR圖像的相干矩陣T;
步驟二:對相干矩陣T進行Freeman-Durden目標分解并將每個像素點i分解成三種散射類型:表面散射ps,偶次散射pd,體散射pv,每個像素點i的散射特性用一個1×3向量表示,標記為veci=[psi,pdi,pvi];
步驟三:利用非局部均值濾波,尋找極化SAR圖像數據中每一個像素點i的相似像素點,組成相似像素點集合S0;
步驟四:在步驟三得到的相似像素點集合S0中再利用像素點的散射特性篩選最終相似像素點集合S,利用相似像素點集合S對像素點i進行估計;
步驟五:對極化SAR圖像數據的每一個像素點i進行步驟三和步驟四,得到整個極化SAR圖像數據的最終濾波后的相干矩陣
步驟六:利用Pauli分解方法將濾波后的相干矩陣合成偽彩圖;
所述的步驟三,包括如下步驟,
(1):以像素i為中心擴展出7×7的局部區域,記為圖像塊I;以像素i為中心擴展出15×15的搜索窗Ω,分別以搜索窗Ω內的每個像素點j1,j2,...,jN為中心擴展出各自的7×7的局部區域,分別標記為圖像塊J1,J2,...,JN,N為搜索窗內的像素點數;
計算圖像塊I和搜索窗內各圖像塊J1,J2,...,JN之間的相似度式子中表示兩個圖像塊之間的相似性度量,k為圖像塊內像素點個數,取值49;
計算像素點i和搜索窗內的每個像素點j1,j2,...,jN之間的相似度 式子中|Ip|是圖像塊I的第p個像素點矩陣的行列式值,是圖像塊Jn的第p個像素點矩陣行列式值;
(2):對步驟三分步驟(1)得到的與給定的閾值TNLM作比較,如果則將圖像塊Jn所對應的中心像素點jn存入像素點i的相似像素點集合S0中,同時計算出像素點jn對于像素點i的權重其中閾值TNLM的定義為: K是一個可調參數,k為圖像塊內像素點個數,L是極化SAR數據的視數;
所述的步驟四,包括如下步驟:
(1):像素點i的散射特性向量標記為veci=[psi,pdi,pvi],搜索窗Ω內的每個像素點j1,j2,...,jN的散射向量標記為其中1≤n≤N,計算出向量veci的模值為vecjn的模值為像素點i和像素點jn,1≤n≤N之間的散射相似性度量為 其中1≤n≤N,t表示轉置,||veci||和分別表示散射特征向量veci和的二范數,min指求取最小值的函數;
(2):將步驟四步驟(1)得到的兩個像素點間的散射相似性RHSP與閾值THHSP比較,如果RHSP≥THHSP,則像素點jn對于像素點i的最終權重Wn=wn,其中閾值TNLM的定義為:K是一個可調參數,k為圖像塊內像素點個數,L是極化SAR數據的視數,否則將像素點jn從像素點i的相似像素點集合S0中剔除,即Wn=0,得到像素點i的最終的相似像素點集合S,其中閾值THHSP定義為:其中Pi是向量veci的模值;λ是一個可調參數,可調范圍為0.75~0.95;
(3):利用最終權值Wn計算像素點jn對像素點i的濾波結果
1≤n≤N,其中是歸一化參數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安電子科技大學;西安航天天繪數據技術有限公司,未經西安電子科技大學;西安航天天繪數據技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410442912.4/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





