[發明專利]利用變化檢測的烴類開采的方法以及相關設備

無效

• 申請號: 201410442800.9
• 申請日: 2014-09-02
• 公開（公告）號: CN104514533A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: M·拉赫姆斯;M·布魯;M·特勞特曼;K·紐金特
• 申請（專利權）人: 哈里公司
• 主分類號: E21B43/24
• 分類號: E21B43/24;E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038
• 代理人: 袁玥

1.一種用于預測地下巖層中的烴類開采的方法，包括：

生成與來自所述地下巖層的樣本中的斷裂相關聯的加熱前數據；

利用射頻RF功率來加熱所述樣本，以導致所述樣本中的額外的斷裂；

在利用RF功率加熱之后生成與所述樣本中的額外的斷裂相關聯的加熱后數據；

檢測所加熱前數據和加熱后數據之間的變化；以及

基于所述檢測到的變化，預測從所述地下巖層的烴類開采。

2.如權利要求1所述的方法，其中，檢測變化包括檢測斷裂中的體積測定的變化。

3.如權利要求1所述的方法，其中，所述加熱前數據包括三維映射加熱前數據；并且其中，所述加熱后數據包括三維映射加熱后數據。

4.如權利要求1所述的方法，其中，生成所述加熱前數據和加熱后數據各自都包括使用計算層析成像CT掃描。

5.如權利要求1所述的方法，進一步包括對所述加熱前數據和加熱后數據中的每一個執行至少一個濾波過程。

6.如權利要求1所述的方法，其中，檢測變化包括執行互信息計算。

7.如權利要求1所述的方法，其中，生成所述加熱前數據包括執行至少一個第一邊緣檢測過程；并且其中，生成所述加熱后數據包括執行至少一個第二邊緣檢測過程。

8.一種用于從地下巖層的樣本預測地下巖層中的烴類開采的設備，所述設備包括：

射頻RF天線；

傳感器；以及

處理器，所述處理器被耦合到所述RF天線和所述傳感器，并被配置成

通過所述傳感器，生成與所述樣本中的斷裂相關聯的加熱前數據，

利用來自所述RF天線的RF功率加熱所述樣本，以導致所述樣本中的額外的斷裂，

在利用RF功率加熱之后，通過所述傳感器，生成與所述樣本中的額外的斷裂相關聯的加熱后數據，

檢測所述加熱前數據和加熱后數據之間的變化，以及

基于所檢測到的變化，預測從所述地下巖層的烴類開采。

9.如權利要求8所述的設備，其中，所述處理器被配置成通過檢測斷裂中的體積測定變化來檢測變化。

10.如權利要求8所述的設備，其中，所述加熱前數據包括三維映射加熱前數據；并且其中，所述加熱后數據包括三維映射加熱后數據。