[發明專利]器件參數的確定方法和裝置

有效

• 申請號: 201410441793.0
• 申請日: 2014-09-01
• 公開（公告）號: CN105447214B
• 公開（公告）日: 2020-05-22
• 發明（設計）人: 黃慕真;胡志中;曹宗良;朱峰
• 申請（專利權）人: 臺灣積體電路制造股份有限公司
• 主分類號: G06F30/17
• 分類號: G06F30/17
• 代理公司: 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409
• 代理人: 章社杲;孫征

本發明公開了一種器件參數的確定方法和裝置，其中，該方法包括：獲取器件的第一類型的參數的第一參數值；從預先配置的對應于器件的模型中獲取第一類型的參數的參考值、以及參考值與第二類型的參數的參考值之間的對應關系；根據對應關系、以及第一參數值，確定器件的第二類型的參數的第二參數值。本發明通過根據模型中包含的參數間的關系以及器件的某個參數的實際參數值來確定其他參數值，從而能夠得到器件的多個參數值，能夠在無需對器件進行復雜的測量的情況下，客觀地獲得器件的多個參數，有助于對器件或電路的實際情況進行更加準確的評估。

技術領域

本發明涉及電子設計領域，并且特別地，設計一種器件參數的確定方法和裝置。

背景技術

在確定電子器件或電子器件組成的電路的實際性能時，需要參照各種參數。通常情況下，會借助與器件或電路對應的工業標準仿真模型(例如，可以參照BSIM模型)來確定器件或電路的參數。但是，工業標準仿真模型是預先給定的，其中的參數均是理想情況下的參數值。而在產品的實際制造當中，會因為很多因素導致產品的實際參數相對于模型中的參數出現偏差。

在根據模型中的理想參數值評估器件或電路的性能時，由于實際參數值與理想參數值之間的差異，所以必然將導致評估的結果與實際的客觀結果之間存在差異，進而降低了評估的準確性。

針對相關技術中器件或電路評估準確性較低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

針對相關技術中器件或電路評估準確性較低的問題，本發明提出一種器件參數的確定方法和裝置，能夠更加客觀地確定器件參數，有助于提高器件或電路評估結果的準確性。

本發明的技術方案是這樣實現的：

根據本發明的一個方面，提供了一種器件參數的確定方法。

根據本發明的器件參數的確定方法包括：

獲取器件的第一類型的參數的第一參數值；

從預先配置的對應于器件的模型中獲取第一類型的參數的參考值、以及參考值與第二類型的參數的參考值之間的對應關系；

根據對應關系、以及第一參數值，確定器件的第二類型的參數的第二參數值。

其中，上述對應關系包括第一類型的參數的多個參考值與第二類型的參數的多個參考值之間的一一對應關系。

并且，在確定第二參數值時，根據一一對應關系確定第一類型的參數的參考值與第二類型的參數的參考值之間的變化關系，并根據變化關系、以及第一參數值與第一類型的參數的至少一個參考值之間的差，確定第二參數值。

并且，該方法可以進一步包括：

從模型中獲取第一類型的參數的參考值與第三類型的參數的參考值之間的對應關系，并根據該對應關系、以及第一參數值，確定器件的第三類型的參數的第三參數值。

另外，該方法可以進一步包括：

從模型中獲取第二類型的參數的參考值與第四類型的參數的參考值之間的對應關系，并根據該對應關系、以及第二參數值，確定器件的第四類型的參數的第四參數值。

此外，該方法還可以進一步包括：

根據器件的尺寸、以及器件的參數隨尺寸而改變的變化關系，確定其他尺寸的器件參數。

該方法可以進一步包括：

根據第一參數值和第二參數值確定器件、和/或由器件組成的電路的性能。

根據本發明的另一方面，還提供了一種器件參數的確定裝置。