[發明專利]可調節動態范圍的微分干涉儀及測量方法

有效

• 申請號: 201410440329.X
• 申請日: 2014-09-01
• 公開（公告）號: CN104215319B
• 公開（公告）日: 2017-01-11
• 發明（設計）人: 甄勝來;陳劍;俞本立;李輝;曹志剛;朱軍
• 申請（專利權）人: 安徽大學
• 主分類號: G01H9/00
• 分類號: G01H9/00
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙)32260
• 代理人: 張歡勇

1.一種可調節動態范圍的微分干涉儀，其特征在于：包括ASE光源(1)、光纖環形器(2)、第一光纖耦合器(3)、第一延遲光纖(4)、第二延遲光纖(5)、光開關(6)、第一光電探測器(7.1)、第二光電探測器(7.2)、第三光電探測器(7.3)、第二光纖耦合器(8)、法拉第旋轉鏡(10)；所述第一光電探測器(7.1)、第二光電探測器(7.2)、第三光電探測器(7.3)分別與第一光纖耦合器(3)連接，所述光纖環形器(2)串接在第二光電探測器(7.2)與第一光纖耦合器(3)連接的通路上，所述光纖環形器(2)還與ASE光源(1)連接，所述第一光纖耦合器(3)還分別與第一延遲光纖(4)、第二延遲光纖(5)、第二光纖耦合器(8)連接，所述第一延遲光纖(4)、第二延遲光纖(5)分別與光開關(6)連接，所述光開關(6)還與第二光纖耦合器(8)連接，所述第二光纖耦合器(8)與法拉第旋轉鏡(10)相連，所述第一延遲光纖(4)、第二延遲光纖(5)長度不同。

2.根據權利要求1所述的可調節動態范圍的微分干涉儀，其特征在于：所述ASE光源(1)為寬帶光源。

3.根據權利要求1所述的干涉儀，其特征在于：所述第一光纖耦合器(3)為3x3光纖耦合器，所述第二光纖耦合器(5)為2x2光纖耦合器。

4.根據權利要求1所述的干涉儀，其特征在于：所述可調節動態范圍的微分干涉儀還包括用于調節光開關(6)開關與閉合的單片機系統(11)，所述光開關(6)還與單片機系統(11)相連。

5.根據權利要求1所述的干涉儀，其特征在于：所述可調節動態范圍的微分干涉儀還包括數據采集卡(12)，所述第一光電探測器(7.1)、第二光電探測器(7.2)、第三光電探測器(7.3)均安裝有數據采集卡(12)。

6.一種可調節動態范圍的微分干涉儀操作方法，其具體步驟如下：

步驟一、安裝信號源，將信號源(9)串接在第二光纖耦合器(8)與法拉第旋轉鏡(10)連接的通路上；

步驟二、打開ASE光源，使ASE光源(1)發出的光經第一光纖耦合器(3)和第二光纖耦合器(8)至法拉第旋轉鏡(10)，法拉第旋轉鏡(10)將光反射回第一光纖耦合器(3)和第二光纖耦合器(8)并分別進入第一光電探測器(7.1)、第二光電探測器(7.2)、第三光電探測器(7.3)；

步驟三、調整光開關，所述第一延遲光纖(4)、第二延遲光纖(5)長度不同，通過單片機系統(11)調節光開關(6)連通第一延遲光纖(4)或連通第二延遲光纖(5)；

步驟四、數據轉換，通過數據采集卡(12)采集第一光電探測器(7.1)、第二光電探測器(7.2)、第三光電探測器(7.3)上信號，并進行A/D轉換、消直流、減法、取反正弦再積分獲得待測振動信號。