[發明專利]一種利用X-熒光光譜分析地質樣品中痕量元素的方法

無效

• 申請號: 201410439114.6
• 申請日: 2014-08-29
• 公開（公告）號: CN104297276A
• 公開（公告）日: 2015-01-21
• 發明（設計）人: 萬光會;肖延安
• 申請（專利權）人: 無錫英普林納米科技有限公司
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 成立珍

1.一種利用X射線熒光光譜分析地質中痕量元素的方法，其特征在于，包括如下步驟：

(1)樣品的制備：將樣品在110～130℃條件下烘2～4h，然后將標樣或待測樣品、混合熔劑以及NH₄NO₃混合，放置在鉑金-金合金鉗鍋中，攪拌均勻，再向其中滴加脫模劑，置于熔樣機上，在700～850℃中放置5～6min，然后升溫至1150～1350℃，熔融5min，再搖動3min，靜置1min后倒入模具內澆鑄成玻璃熔片；

(2)標準曲線的制定：按照步驟的方法制備標準品，然后利用能量色散X-射線熒光光譜儀分析，制定校準曲線；

(3)測量條件：樣品中的各種物質測量條件如下：

Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu：選擇Kα線，管壓100kV，管流6mA，二級靶用Al₂O₃，測量時間為250s；

Se：選擇Kα線，管壓100kV，管流6mA，二級靶用Mo，測量時間為600s；

Ge：選擇Kα線，管壓100kV，管流6mA，二級靶用KBr，測量時間為250s。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中所述的混合熔劑為Li₂B₄O₇與LiBO₂按照質量比為66:34混合的混合物。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中待測樣品、混合熔劑和NH₄NO₃按照質量比為1:6:1的比例混合。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中所述的脫模劑為LiBr飽和溶液，每克樣品添加量為220～350μL。