[發(fā)明專利]密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410437795.2 | 申請日: | 2014-09-01 |
| 公開(公告)號: | CN104181339A | 公開(公告)日: | 2014-12-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃掌飛 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州市吳中區(qū)胥口廣博模具加工廠 |
| 主分類號: | G01R1/02 | 分類號: | G01R1/02 |
| 代理公司: | 南京匯盛專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32238 | 代理人: | 張立榮 |
| 地址: | 215156 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 密閉 盒式 干擾 主板 測試 裝置 蓋板 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測試裝置領(lǐng)域,特別是涉及一種密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置。
背景技術(shù)
在電子產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中,其電路板的生產(chǎn)是一個比較關(guān)鍵的工藝,需要對每一塊電路板進(jìn)行不同的測試,不同的電路板根據(jù)其大小和安裝的電子元件不同,其測試也是不一樣的,其中就有一項是無干擾源環(huán)境下的主板功能性測試,一般情況下要做到無干擾源環(huán)境測試,需要專業(yè)的設(shè)備器材,如無干擾頻普分析儀等,這樣的設(shè)備價格非常高,對于生產(chǎn)線來說無法大批量裝備使用,其檢測效率較低,一般是一些有小批量檢測需求的檢測機(jī)構(gòu)在裝備使用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置,其結(jié)構(gòu)簡單實用,制作成本較低,使用時只需要和檢測設(shè)備連接就可以,可大批量投入使用,大大降低生產(chǎn)中的設(shè)備成本。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是:提供一種密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置,該密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置包括鎖閉掛鉤、掛鉤銷和掛鉤把手,所述鎖閉掛鉤的下端帶有內(nèi)凹的卡口槽,鎖閉掛鉤的中部通過掛鉤銷連接到上蓋板側(cè)邊,兩個鎖閉掛鉤的上端通過掛鉤把手連接在一起。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明一種密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置,其結(jié)構(gòu)簡單實用,制作成本較低,使用時只需要和檢測設(shè)備連接就可以,可大批量投入使用,大大降低生產(chǎn)中的設(shè)備成本。
附圖說明
圖1是本發(fā)明密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置的結(jié)構(gòu)放大示意圖;
圖2是本發(fā)明密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置的側(cè)視放大圖;
圖3是本發(fā)明密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置局部放大圖。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖對本發(fā)明較佳實施例進(jìn)行詳細(xì)闡述,以使發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解,從而對本發(fā)明的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
請參閱圖1至圖3,本發(fā)明實施例包括:
一種密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置,該密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置包括鎖閉掛鉤90、掛鉤銷91和掛鉤把手92,所述鎖閉掛鉤90的下端帶有內(nèi)凹的卡口槽93,鎖閉掛鉤90的中部通過掛鉤銷91連接到上蓋板94側(cè)邊,兩個鎖閉掛鉤90的上端通過掛鉤把手92連接在一起。
本發(fā)明密閉盒式無干擾源主板測試裝置的上蓋板鎖閉裝置,其結(jié)構(gòu)簡單實用,制作成本較低,使用時只需要和檢測設(shè)備連接就可以,可大批量投入使用,大大降低生產(chǎn)中的設(shè)備成本。
以上所述僅為本發(fā)明的實施例,并非因此限制本發(fā)明的專利范圍,凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換,或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域,均同理包括在本發(fā)明的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于蘇州市吳中區(qū)胥口廣博模具加工廠;,未經(jīng)蘇州市吳中區(qū)胥口廣博模具加工廠;許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





