[發明專利]一種絕緣子可溶性污穢成分確定方法有效
| 申請號: | 201410437427.8 | 申請日: | 2014-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN104181148A | 公開(公告)日: | 2014-12-03 |
| 發明(設計)人: | 劉琴;徐濤;萬小東;南敬 | 申請(專利權)人: | 國家電網公司;中國電力科學研究院 |
| 主分類號: | G01N21/71 | 分類號: | G01N21/71;G01N30/02 |
| 代理公司: | 北京安博達知識產權代理有限公司 11271 | 代理人: | 徐國文 |
| 地址: | 100031 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 絕緣子 可溶性 污穢 成分 確定 方法 | ||
【技術領域】
本發明涉及一種確定絕緣子污穢成分的方法,具體的說是一種確定絕緣子表面可溶性污穢成分的方法。
【背景技術】
長期暴露在空氣中的線路絕緣子,表面會累積污穢,污穢物達到一定量后,在雨、雪、霧等潮濕天氣下會發生污閃,嚴重影響線路的安全穩定運行,檢測不同環境下的線路絕緣子表面污穢化學成分,對線路的安全穩定運行及污穢外絕緣配置具有重要作用。在進行人工污穢實驗時,一般用NaCl污染,得到的人工污穢污閃電壓比自然污穢偏低,所以人工污穢試驗結果準確性存在質疑。
201310461244.5號專利公開了一種高壓絕緣子污穢成分測定方法,通過X-射線光電子能譜儀(XPS)測試、傅立葉變換紅外光譜儀(FTIR)測試、ICP測試和IC測試結果的有機結合,對高壓絕緣子污穢成分定性和定量分析,但其結果僅能獲得可溶性污穢陰陽離子濃度,或各種元素的濃度,獲得的可溶物陰陽離子濃度或元素濃度無法直接應用于指導人工污穢試驗時污穢物的配置,需要確定可溶性污穢的化學成分。
【發明內容】
為確定可溶性污穢的成分,本專利提供一種絕緣子可溶性污穢成分的確定方法,可準確有效的對絕緣子表面可溶性污穢的主要化學成分進行確定,從而有效的指導污穢外絕緣配置。
為實現上述發明目的,本發明采取的技術方案為:
一種絕緣子可溶性污穢成分確定方法,包括以下步驟:
(1)采集絕緣子表面污穢:用濕潤的無紡布擦取絕緣子表面污穢,取樣后含污的取樣布浸入去離子水中使可溶性污穢溶解,獲得污穢懸濁液,過濾后得到可溶物溶液,將溶液平均分為兩份;
(2)測量步驟(1)采集的可溶性污穢中陽離子的濃度;
(3)測量步驟(1)采集的可溶性污穢中陰離子的濃度;
(4)對步驟(2)和(3)測得濃度的陰陽離子進行配對,得到可溶性污穢的分子式及濃度含量。
優選的,采用等離子體發射光譜儀測量步驟(1)采集的可溶性污穢中陽離子濃度。其測試參數為:射頻發生器頻率27.12MHz,冷卻氣0-20L/min,輔助氣0~2.0L/min,霧化氣0~2.0L/min,增量0.1L。觀察方式為水平觀察,積分時間0-30s。
另一優選的,采用離子色譜儀測量步驟(1)采集的可溶性污穢中陰離子濃度。其測試參數為:色譜柱:AS14-HC型陰離子分析柱,AS14-HC型保護柱;流動相:4.5mmol/L的Na2CO3和0.8mmol/LNaHCO3的混合物,抑制器為膜抑制器,進樣體積10-20μL,流速1mL/min。
再一優選的,將步驟(2)和(3)所測得的陰陽離子按照污閃電壓影響的顯著性進行配對。通常離子質量越大,相同電場力作用下離子的運動速度越慢,電導率越小;離子體積越大,相同濃度時離子碰撞的概率越高,碰撞會造成離子的平均運動速度變慢,電導率也變小。離子的分子質量越大體積越大,電導率越低,對污閃電壓影響的顯著性越小,主要離子對污閃電壓影響顯著性大小為:Na+>K+>Mg2+>Ca2+>Zn2+;Cl->NO3->SO42-。根據此原則先配對一價堿金屬,再配對二價堿金屬。更優選的,按照污閃電壓影響的顯著性進行配對完成后,再按照溶解度的大小依次配對其他物質。
與現有技術相比,本發明的有益效果是:本發明提供的可溶性污穢成分確定方法,能夠快速準確有效的獲得可溶性污穢成分的化學式及濃度,結果能夠更好的應用于人工污穢試驗,從而有效的指導污穢外絕緣配置,對線路的安全穩定運行及污穢外絕緣配置具有重要的意義,從而有效地防止絕緣子污閃事故的發生。
【附圖說明】
下面結合附圖對本發明進一步說明。
圖1絕緣子表面可溶性污穢成分確定方法流程圖。
【具體實施方式】
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