[發(fā)明專利]頻選信干噪比參數(shù)的獲取方法和裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410436869.0 | 申請日: | 2014-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN105376010B | 公開(公告)日: | 2019-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張鵬程 | 申請(專利權(quán))人: | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H04L1/00 | 分類號: | H04L1/00 |
| 代理公司: | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人: | 劉芳 |
| 地址: | 518129 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 頻選信干噪 參數(shù) 獲取 方法 裝置 | ||
本發(fā)明實施例提供一種頻選信干噪比參數(shù)的獲取方法和裝置。該方法包括:根據(jù)獲取的全頻帶信干噪比SINR參數(shù)確定全頻帶SINR;其中,所述全頻帶SINR參數(shù)包括下行全頻帶信道質(zhì)量指示CQI,所述全頻帶SINR包括下行全頻帶SINR;根據(jù)上行全頻帶的特征值和所述上行全頻帶中的上行子帶的特征值獲取所述上行子帶的SINR補償量;根據(jù)所述上行子帶的SINR補償量對所述全頻帶SINR進行補償,獲得頻選SINR;其中,所述頻選SINR包括下行子帶SINR;根據(jù)所述頻選SINR確定頻選SINR參數(shù);其中,所述頻選SINR參數(shù)包括下行頻選CQI。本發(fā)明實施例提供的方法,節(jié)省了基站獲取頻選CQI的資源開銷,也提升了基站資源調(diào)度的準確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實施例涉及通信技術(shù),尤其涉及一種頻選信干噪比參數(shù)的獲取方法和裝置。
背景技術(shù)
信道質(zhì)量指示(Channel Quality Indication,以下簡稱CQI)是無線信道的通信質(zhì)量的測量標準。通常,一個高值的CQI表示一個信道有高的質(zhì)量,反之亦然。UE通過將下行頻帶的CQI上報給基站,使得基站可以根據(jù)用戶設(shè)備(User Equipment,以下簡稱UE)上報的下行頻帶的CQI獲知下行信道的通信質(zhì)量,從而為UE分配合適的資源。
現(xiàn)有技術(shù)中,整個通信系統(tǒng)的帶寬即為全頻帶,一個全頻帶可以按照不同的粒度劃分為若干個子帶。一般的,基站為了為UE分配合適的資源,不僅需要獲取UE針對整個系統(tǒng)帶寬測量的下行全頻帶CQI,也需要獲取UE針對部分系統(tǒng)帶寬測量的的子帶CQI(即頻選CQI),基站獲取子帶CQI可以使得基站更為準確的進行資源調(diào)度。
但是,現(xiàn)有技術(shù)中基站獲取CQI時的資源開銷較大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實施例提供一種頻選信干噪比參數(shù)的獲取方法和裝置,用以解決現(xiàn)有技術(shù)中基站獲取CQI時的資源開銷較大的技術(shù)問題。
第一方面,本發(fā)明實施例提供一種頻選信干噪比參數(shù)的獲取裝置,包括:
第一確定模塊,用于根據(jù)獲取的全頻帶信干噪比SINR參數(shù)確定全頻帶SINR;其中,所述全頻帶SINR參數(shù)包括下行全頻帶信道質(zhì)量指示CQI,所述全頻帶SINR包括下行全頻帶SINR;
第一獲取模塊,用于根據(jù)上行全頻帶的特征值和所述上行全頻帶中的上行子帶的特征值獲取上行子帶的SINR補償量;
第二獲取模塊,用于根據(jù)所述上行子帶的SINR補償量對所述全頻帶SINR進行補償,獲得頻選SINR;其中,所述頻選SINR包括下行子帶的SINR,所述上行子帶的SINR補償量為所述全頻帶SINR與所述上行子帶的SINR的差值;
第二確定模塊,用于根據(jù)所述頻選SINR確定頻選SINR參數(shù);其中,所述頻選SINR參數(shù)包括下行頻選CQI。
結(jié)合第一方面,在第一方面的第一種可能的實施方式中,所述全頻帶SINR參數(shù)還包括上行全頻帶調(diào)制編碼策略MCS,則所述頻選SINR還包括上行子帶的SINR,所述頻選SINR參數(shù)還包括上行頻選MCS。
結(jié)合第一方面或第一方面的第一種可能的實施方式,在第一方面的第二種可能的實施方式中,所述第一獲取模塊,具體用于根據(jù)公式[EigVec,λ]=Eig(Ruu)獲取所述上行全頻帶的特征值;其中,所述Ruu為上行全頻帶的協(xié)方差陣,所述Eig為特征值分解操作,所述EigVec為特征向量,所述λ為所述上行全頻帶的特征值;并根據(jù)公式[EigVec,λx]=Eig(Ruu)獲取所述上行子帶的特征值;其中,所述λx為所述上行子帶的特征值;并根據(jù)公式獲取所述上行子帶的SINR補償量;其中,所述P為所述上行子帶的SINR補償量。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華為技術(shù)有限公司,未經(jīng)華為技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410436869.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





