[發明專利]OLED接觸阻抗測試組件

有效

• 申請號: 201410431193.6
• 申請日: 2014-08-28
• 公開（公告）號: CN104198817B
• 公開（公告）日: 2017-02-01
• 發明（設計）人: 許嘉哲
• 申請（專利權）人: 上海和輝光電有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02
• 代理公司: 上海唯源專利代理有限公司31229
• 代理人: 曾耀先

技術領域

本發明涉及一種OLED面板測試組件，尤其涉及一種OLED接觸阻抗測試組件。

背景技術

有機發光二極管(Active?Matrix?Organic?Light?Emitting?Diode,AMOLED)為新世代的顯示器技術，其具有自發光、廣視角、對比度、低耗電、高響應速度、高分辨率、全彩薄型化等優點，具有挑戰成為未來主流的顯示器技術。

AMOLED在背板組件部分，現行技術主要采用LTPS(Low?Temperature?Poly?Silicon)制程，再搭配OLED蒸鍍封裝制程與模塊偏光膜與IC貼合制程，最終完成一個面板顯示器。

如圖1所示，現有技術中的OLED面板的發光過程中AMOLED面板中的OLED驅動單元44利用薄膜晶體管(TFT)的開關特性將電洞流訊號由OLED驅動單元的陽極43傳至相對應的OLED的陽極42，同時OLED的陰極材料層33將電子流訊號也傳至相對應的OLED，利用電子電洞在發光材料層(EML)的結合而產生自發光的特性。

如上所述AMOLED面板包括很多復雜的步驟制成的復雜結構，所以在AMOLED面板制作過程中缺乏有效的監控機制來監控陽極與陰極等相關制程的不良帶來的問題，如陽極電阻抗偏高、陰極電阻抗偏高、PD?Taper?Profile不良、陰極接口污染、陽極接口污染等問題，這些都會造成組件發光效率低落或甚至失效，故當AMOLED發光效率不好時，往往需要花費很長時間找到問題的原因，因此很難在短時間防范進而造成生產成本的損失。

發明內容

本發明的目的在于提供一種OLED接觸阻抗測試組件，通過該組件可以測量OLED面板內部一些結構的接觸阻抗，從而在AMOLED制程發生問題時可以快速定位問題。

為了解決上述問題及其它問題，本發明提出了一種OLED接觸阻抗測試組件，其包括：

位于OLED面板內部的OLED陰極材料層；

設置于OLED面板邊緣的多個測試點；

連接所述OLED陰極材料層和所述測試點的連接線，所述測試點和所述連接線采用所述連接線部分重疊于所述測試點上方的方式連接，所述OLED陰極材料層和所述連接線采用所述OLED陰極材料層部分重疊于所述連接線上方的方式連接。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：每一個所述測試點和所述連接線的重疊面積相等。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：每一個連接線和所述OLED陰極材料層的重疊面積相等。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：所述連接線的材質和所述OLED面板內部的OLED陽極的材質相同。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：所述連接線由銀薄膜和氧化銦錫薄膜組成。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：所述測試點的材質和所述OLED面板內部的OLED驅動單元的陽極的材質相同。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：所述OLED陰極材料層的材質為鎂鋁合金。

本發明的OLED接觸阻抗測試組件的進一步改進在于：所述OLED陰極材料層的上方設置有蓋板玻璃。

本發明由于采用了以上技術方案，使其具有以下有益效果是：本發明的OLED接觸阻抗測試組件可以快速測試OLED面板內部不同組件的接觸阻抗，通過阻抗的測量可以在復雜的OLED面板內部快速定位存在的問題。

附圖說明

圖1是現有技術的OLED面板的截面示意圖；

圖2是本發明OLED接觸阻抗測試組件的俯視圖；

圖3是本發明OLED接觸阻抗測試組件的截面圖；

圖4是本發明OLED接觸阻抗測試組件的測試點制作完成后的俯視圖；

圖5是本發明OLED接觸阻抗測試組件的測試點制作完成后的截面圖；

圖6是本發明OLED接觸阻抗測試組件的連接線制作完成后的俯視圖；

圖7是本發明OLED接觸阻抗測試組件的連接線制作完成后的截面圖；

圖8是本發明OLED接觸阻抗測試組件的連接線制作完成后的俯視圖；

圖9是本發明OLED接觸阻抗測試組件的連接線制作完成后的截面圖。

具體實施方式