[發明專利]電子元件檢測分選的搬送方法及裝置在審
| 申請號: | 201410431040.1 | 申請日: | 2014-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN105080849A | 公開(公告)日: | 2015-11-25 |
| 發明(設計)人: | 郭明宗 | 申請(專利權)人: | 萬潤科技股份有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/02 | 分類號: | B07C5/02 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 陳亮 |
| 地址: | 中國臺灣高雄*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子元件 檢測 分選 方法 裝置 | ||
技術領域
本發明有關于一種搬送方法及裝置,尤指一種在進行檢測分選過程中對電子元件執行搬送的電子元件檢測分選的搬送方法及裝置。
背景技術
一般電子元件由于具有不同的物理特性,故常需經由檢測、分選的程序來進行包裝或分類,由于電子元件的微細化及量大屬性,用于作檢測、分選的裝置必須提供精密、迅速的搬送,此外,由于制程因素,同一電子元件的物理特性愈來愈多樣化,因此分選的BIN數被要求須愈多,故檢測、分選的裝置成本將愈來愈高,基于此因素,將相近的不同電子元件作共通性的搬送,將可以減輕裝置設備的制造成本。
以發光二極管(LED)的檢測為例,一般以體型略呈方型的發光二極管(LED)中,其大致屬于發光面在上方的上側發光(Topview)類型,而其導電層在下方,故在檢測時需在上方設檢測單元及在下方設導電端子,其在搬送方式上常采用震動送料機配合周緣開有環列布設多個相間隔缺槽狀而開口朝外容置空間的轉盤,使震動送料機的輸送槽道出口直接對應轉盤旋轉中心及容置空間的開口,而將待搬送的元件直接正向自輸送槽道出口推送進入容置空間中,以藉由轉盤作旋轉搬送以進行檢測,并檢測后,依檢測結果所呈現取得的物理特性數據,將元件以氣壓排出轉盤,并以擺臂導引而選擇性地移至多個排出管路之一,并排入收集盒被收集。
發明內容
然而,背景技術并未考慮到當發光二極管(LED)為長方型及側面發光(Sideview)的狀況,此種側面發光(Sideview)的發光二極管,其發光面在側邊,而導電層在上方,故在檢測時需在側邊設檢測單元及在上方設導電端子,故當發光二極管(LED)為此種長方型及側面發光(Sideview)時,其在震動送料機的輸送槽道中無法被以橫設且垂直槽道輸送方向的方式被輸送,因此當長方型發光二極管被迫須以長側邊平行槽道輸送方向的方式被從輸送出口推出時,其自轉盤容置空間開口進入時,該發光二極管側面發光部位將被缺槽狀容置空間的側邊所遮檔,而無法在側邊設檢測單元進行檢測。
因此,本發明的目的在于提供一種適用于進行上側發光(Topview)及側面發光(Sideview)的發光二極管檢測時,用以搬送待測元件的電子元件檢測分選的搬送方法。
本發明另一目的在于提供一種適用于進行側面發
光(Sideview)的發光二極管檢測時,用以搬送待測元件的電子元件檢測分選的搬送方法。
本發明又一目的在于提供一種適用于進行上側發光(Topview)及側面發光(Sideview)的發光二極管檢測時,用以搬送待測元件的電子元件檢測分選的搬送裝置。
本發明再一目的在于提供一種用以執行上述電子元件檢測分選的搬送方法的裝置。
依據本發明目的的電子元件檢測分選的搬送方法,包括:一整列輸出步驟,以一輸送機構的輸送槽道的輸送路徑,使待測元件被輸送槽道被從一輸送口送出;一入料步驟,以一入料機構將從輸送口推出的待測元件移送進入一轉向機構的一移載部;一轉向步驟,轉向機構旋轉一角度,將移載部中之待測元件旋轉搬送至對應一測盤的容置空間;一轉換步驟,將待測元件移出移載部往測盤的容置空間方向位移,并使待測元件于測盤的容置空間中被定位、搬送。
依據本發明目的的另一電子元件檢測分選的搬送方法,包括:一整列輸出步驟,以一輸送機構的輸送槽道的輸送路徑,使待測元件被輸送槽道從一輸送口送出;一入料步驟,以一入料機構將從輸送口推出的待測元件移送進入一測盤的容置空間,并使待測元件于測盤的容置空間中被定位、搬送。
依據本發明目的的又一電子元件檢測分選的搬送方法,包括:使待測元件被輸送槽道以第一搬送路徑從輸送口送出時,維持一第一置設方向;使待測元件在維持一第一置設方向下,被以垂直第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被移送,而自一開口進入一測盤的容置空間。
依據本發明目的的再一電子元件檢測分選的搬送方法,包括:使待測元件被輸送槽道以第一搬送路徑從輸送口送出時,維持一第一置設方向;使從該輸送槽道的輸送口送出的待測元件被轉向而呈一第二置設方向,再被以平行第一搬送路徑方向的第二搬送路徑被移送,而自一開口進入一測盤的容置空間。
依據本發明另一目的的電子元件檢測分選的搬送方法,包括:使被搬送的側面發光(Sideview)的發光二極管待測元件,被一輸送槽道輸送而從一輸送口推出,并在保持發光面背側朝一測盤的容置空間開口方向的狀態被移送進入該容置空間,待測元件并在容置空間中受負壓所吸附,而以發光面背側的側邊貼靠容置空間的底側邊定位下被搬送。
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