[發明專利]一種光學系統綜合性能測試儀有效
| 申請號： | 201410430593.5 | 申請日： | 2014-08-28 |
| 公開（公告）號： | CN105444993B | 公開（公告）日： | 2018-05-04 |
| 發明（設計）人： | 陳海清;鄧嚴;廖兆曙;童伊琳 | 申請（專利權）人： | 漢口學院;陳海清;鄧嚴 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武漢東喻專利代理事務所(普通合伙)42224 | 代理人： | 紀元 |
| 地址： | 430212 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光學系統 綜合 性能 測試儀 | ||
1.一種光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，在水平的主光軸上依次設置有光源(1)、光斑/光焦切換裝置(2)、平行光管(3)、被測光學系統座(4)和光電接收器(5)；
所述光源(1)、光斑/光焦切換裝置(2)和平行光管(3)固定在圓轉臺(6)上，用于提供軸上光或軸外光；
所述光斑/光焦切換裝置(2)，設置在平行光管(3)焦平面上，包括玻羅板(21)、星點板(22)及切換裝置(23)，用于在玻羅板(21)和星點板(22)之間切換；
所述光電接收器(5)，為面陣光電耦合器，固定在平移臺(7)上。
2.如權利要求1所述的光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，所述光源(1)包括照明裝置(11)、強度調節裝置(12)和波長選擇裝置(13)；所述照明裝置(11)用于產光，其光路上設置有強度調節裝置(12)和波長選擇裝置(13)。
3.如權利要求2所述的光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，所述強度調節裝置(12)，包括一個或多個衰減片。
4.如權利要求2所述的光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，所述波長選擇裝置(13)為濾光片。
5.如權利要求1所述的光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，當所述光學系統綜合性能測試儀處于焦距測量狀態時，所述光源(1)、光斑/光焦切換裝置(2)和平行光管(3)提供軸上光，光斑/光焦切換裝置(2)切換為玻羅板(21)；當所述光學系統綜合性能測試儀處于光斑分析狀態時，所述光源(1)、光斑/光焦切換裝置(2)、和平行光管(3)提供軸上光或軸外光，光斑/光焦切換裝置(2)切換為星點板(22)。
6.如權利要求1所述的光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，所述玻羅板(21)為狹縫玻羅板(21)，其上有成對的刻線，每對刻線間隔已知。
7.如權利要求1所述的光學系統光斑/光焦綜合性能測試儀，其特征在于，所述星點板(22)為主光軸上有透光小孔的不透明光學器件，其小孔直徑在0.1mm至0.5mm之間。
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