[發明專利]用于消除由性能差異的探測器單元所致的條狀偽影的方法

有效

• 申請號: 201410428793.7
• 申請日: 2014-08-27
• 公開（公告）號: CN105374012B
• 公開（公告）日: 2018-11-27
• 發明（設計）人: 閆銘;陶鯤;徐昊
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00;G06T11/00;A61B6/03
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 侯穎媖

1.一種用于消除由性能差異的探測器單元所致的條狀偽影的方法，其包括如下步驟：

a1)估算出對應一幀或多幀投影數據中的每一幀投影數據的性能差異的探測器單元上的投影數據；

a2)用所述估算出的對應每一幀投影數據的性能差異的探測器單元上的投影數據來重建出一個或多個初始圖像；

a3)從所述重建出的帶有條狀偽影的一個或多個初始圖像中估算出對應每一幀投影數據的性能差異的探測器單元上的投影誤差數據；及

a4)用所述估算出的對應每一幀投影數據的性能差異的探測器單元上的投影誤差數據來重建出一個或多個輸出圖像，從而從所述重建出的一個或多個輸出圖像中消除所述條狀偽影。

2.如權利要求1所述的方法，其中所述步驟a1)包括使用插值方法來估算出性能差異的探測器單元上的投影數據。

3.如權利要求1所述的方法，其中所述步驟a4)包括：

從所述估算出的性能差異的探測器單元上的投影數據中減去所述估算出的性能差異的探測器單元上的投影誤差數據，從而來獲得校正后的性能差異的探測器單元上的投影數據；及

用所述校正后的性能差異的探測器單元上的投影數據來重建出一個或多個輸出圖像。

4.如權利要求3所述的方法，其中所述步驟a2)包括使用濾波反投影方法用所述估算出的性能差異的探測器單元上的投影數據來重建出一個或多個初始圖像，以及所述步驟a4)包括使用濾波反投影方法用所述估算出的性能差異的探測器單元上的投影誤差數據來重建出一個或多個輸出圖像。

5.如權利要求4所述的方法，其中所述步驟a3)包括：

從所述重建出的一個或多個初始圖像中沿著所述性能差異的探測器單元的投影射線方向提取出圖像條紋；及

用所述提取出的圖像條紋中一個或多個像素的一個或多個灰階值來估算出所述性能差異的探測器單元上的投影誤差數據。

6.如權利要求5所述的方法，其中所述步驟a3)還包括：

在X射線源的位置與所述性能差異的探測器單元的位置之間形成第一直線；

選取與所述第一直線平行的第二和第三直線，其中，所述第二直線到所述第一直線的距離等于所述第三直線到所述第一直線的距離；及

用所述第一、所述第二和所述第三直線的一個或多個對應的像素的一個或多個灰階值來估算出所述性能差異的探測器單元上的投影誤差數據。

7.如權利要求6所述的方法，其中所述步驟a3)還包括：

將所述第一直線分成M段；

分別將所述第二和所述第三直線也分成對應的M段；

使用如下的公式來計算出所述性能差異的探測器單元上的投影誤差數據：

其中，p_e(n,row,view)代表所述性能差異的探測器單元上的投影誤差數據，I_s(k,1)代表所述第一直線上的第k段的灰階值，I_s(k,2)代表所述第二直線上的第k段的灰階值，I_s(k,3)代表所述第三直線上的第k段的灰階值，M代表分段的數量，C₁代表將條狀偽影水平映射到所述性能差異的探測器單元上的投影誤差數據的常數，及a代表在中非零單元的數量，其中k∈[1,M]。

8.如權利要求7所述的方法，其中所述步驟a3)還包括：

確定所述第一、所述第二和所述第三直線上各自的第k段是否在所述重建出的一個或多個初始圖像的像素范圍內；

當確定出所述第一、所述第二和所述第三直線上各自的第k段不在所述重建出的一個或多個初始圖像的像素范圍內時，則所述第一、所述第二和所述第三直線上各自的第k段的灰階值為零；及

當確定出所述第一、所述第二和所述第三直線上各自的第k段在所述重建出的一個或多個初始圖像的像素范圍內時，則所述第一、所述第二和所述第三直線上各自的第k段的灰階值從所述重建出的一個或多個初始圖像中插值得出。