[發明專利]一種氮化鎵基增強型異質結場效應晶體管有效
| 申請號: | 201410427708.5 | 申請日: | 2014-08-27 |
| 公開(公告)號: | CN104157679B | 公開(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發明(設計)人: | 杜江鋒;潘沛霖;陳南庭;于奇 | 申請(專利權)人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/808 |
| 代理公司: | 電子科技大學專利中心51203 | 代理人: | 李明光 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氮化 增強 型異質結 場效應 晶體管 | ||
1.一種氮化鎵基增強型異質結場效應晶體管,從下至上依次主要為襯底(101),氮化鋁(AlN)成核緩沖層(102),氮化鎵溝道層(103),勢壘層(104)和絕緣介質層(105),在所述勢壘層(104)上形成有源極(106)、漏極(107),在所述絕緣介質層(105)上表面設有柵極(108),所述源極(106)及漏極(107)均與所述勢壘層(104)形成歐姆接觸,所述柵極(108)與所述絕緣介質層(105)形成肖特基接觸,其特征在于,在所述氮化鋁(AlN)成核緩沖層(102)的上表面設有背勢壘層(201);所述勢壘層(104)所用材料的極化強度小于或等于所述背勢壘層(201)所用材料的極化強度;所述背勢壘層(201)的垂直軸線與柵極(108)的垂直軸線重合;所述的背勢壘層(201)的長度Lbb滿足0<Lbb<Lsd,其中Lsd為源漏距。
2.根據權利要求1所述的氮化鎵基增強型異質結場效應晶體管,其特征在于,所述的勢壘層(104)的厚度Tbarrier和背勢壘層(201)的厚度Tbackbarrier滿足1nm≤Tbackbarrier≤Tbarrier≤100nm。
3.根據權利要求1所述的氮化鎵基增強型異質結場效應晶體管,其特征在于,所述的絕緣介質層(105)所用材料包括SiO2、Al2O3、Si3N4中的至少一種。
4.根據權利要求1所述的氮化鎵基增強型異質結場效應晶體管,其特征在于,所述的勢壘層(104)和背勢壘層(201)的材料均為鋁銦鎵氮AlxInyGazN,其中,x、y、z分別指鋁銦鎵氮中Al、In和Ga的摩爾百分比組分含量,且x+y+z=1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1。
5.根據權利要求4所述的氮化鎵基增強型異質結場效應晶體管,其特征在于,所述的鋁銦鎵氮AlxInyGazN的極化強度Psp(AlxInyGazN)可通過下式確定:
Psp(AlxInyGazN)=x·Psp(AlN)+y·Psp(InN)+z·Psp(GaN)
其中,Psp(AlN)、Psp(InN)、Psp(GaN)分別指AlN、InN、GaN的極化強度,其中,x、y、z分別指鋁銦鎵氮中Al、In和Ga的摩爾百分比組分含量,且x+y+z=1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1。
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