[發明專利]觸控裝置及其基準二維感測信息的更新方法

有效

• 申請號: 201410427234.4
• 申請日: 2014-08-27
• 公開（公告）號: CN104750333B
• 公開（公告）日: 2017-11-21
• 發明（設計）人: 張欽富;葉尚泰
• 申請（專利權）人: 禾瑞亞科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 任巖

技術領域

本發明是提供一種觸控裝置及其基準二維感測信息的更新方法，尤指于更新基準二維感測信息時，若有平整度值大于預設平整度正比對值或小于預設平整度負比對值，則代表感測面板處于異常狀態，如外部對象長時間覆蓋，故不更新基準二維感測信息。

背景技術

現今電子產品為配合人類的直覺方式，觸控裝置已被廣泛應用在各種電子產品中，以便用戶能通過手或觸控筆等導電對象對電子產品進行控制。

請參閱圖6所示，是為觸控裝置的電路示意圖，由圖中可以清楚看出，該觸控裝置A1于啟動使用時，驅動及感測電路A12會先于感測面板A11無外部對象(例如手指或觸控筆等)觸碰的狀況下，取得各驅動線A111與各感測線A112交叉所形成的各感測點A113的電容性耦合量C(該電容性耦合量可經由量測電容值、電流值、電壓值或電荷量等物理量直接或間接獲得)，并以各電容性耦合量C組成一二維感測信息C_a，再通過處理器A13將該二維感測信息C_a更新為基準二維感測信息C_a⁰，以儲存至存儲器A14中。

當觸控裝置A1的感測面板11受外部導電對象觸碰或覆蓋時，會使得各感測點113的電容性耦合量C產生變化，故處理器A13可于讀取存儲器A14中的基準二維感測信息C_a⁰后，將后續二維感測信息C_a中各電容性耦合量C分別減去基準二維感測信息C_a⁰各相對應的電容性耦合量C，通過得知各感測點A113電容性耦合量C變化，進而判斷出感測面板11上各感測點A113的觸控狀態。

然而，當觸控裝置A1的感測面板A11有外部對象的長時間覆蓋或按壓時，如水滴覆蓋或使用者不經意的長時間按壓，其將會使二維感測信息C_a中若干電容性耦合量C產生變化，此時若處理器A13將含有外部對象覆蓋信息的二維感測信息C_a做為基準二維感測信息C_a⁰，并使得處理器A13后續取得的二維感測信息C_a皆與異常狀態下的基準二維感測信息C_a⁰進行比較，而無法正常判斷各感測點A113的電容性耦合量C變化，故無法正確判斷感測面板A11的觸控狀態，而不利對感測面板A11進行觸控使用。

是以，如何解決現有處理器A13將含有錯誤信息的二維感測信息C_a做為基準二維感測信息C_a⁰的缺點，即為從事此行業的相關廠商所亟欲研究改善的方向所在。

發明內容

發明人有鑒于上述缺點，乃搜集相關資料，經由多方評估及考慮，并以從事于此行業累積的多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種觸控裝置及其基準二維感測信息的更新方法的發明專利。

本發明的主要目的乃在于處理器更新基準二維感測信息時，若平整度信息中有平整值小于預設平整度負比對值或大于預設平整度正比對值，則代表感測面板處于異常狀態(如外部對象長時間覆蓋)，則處理器重復取得后續時間的二維感測信息以運算平整度信息，直至所有平整度值介于預設平整度負比對值及預設平整度正比對值之間(代表異常已排除)，才將二維感測信息更新為基準二維感測信息，通過使處理器后續取得的二維感測信息皆能夠與正常狀態下的基準二維感測信息進行比較，并正常判斷感測面板的觸控狀態，使得觸控裝置能更利于進行觸控操作。

本發明提供一種觸控裝置及其基準二維感測信息的更新方法，該觸控裝置設有感測面板，而感測面板設置有沿第一軸向平行排列的多條驅動線，以及沿第二軸向平行排列且與各驅動線交越的多個感測線，并于各驅動線與各感測線的交越處分別形成感測點，且各驅動線及各感測線分別電性連接至驅動及感測電路，又驅動及感測電路電性連接至處理器，處理器再電性連接至存儲器，其步驟包括：

(A01)驅動及感測電路取得所有感測點的電容性耦合量，并以所有電容性耦合量與其相對應感測點的位置信息構成有二維感測信息；

(A02)處理器對二維感測信息中的多個局部二維感測信息分別運算得到一平整度值，再以所有平整度值及其相對應的局部二維感測信息位置信息構成一平整度信息；

(A03)處理器判斷平整度信息中各平整度值是否介于預設平整度負比對值及預設平整度正比對值之間，若判斷為“是”，則進行步驟(A04)；若判斷為“否”，則進行步驟(A05)；