[發(fā)明專利]一種用于檢測(cè)制動(dòng)盤厚度差的裝置及檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410426711.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-08-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104154843A | 公開(公告)日: | 2014-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳小莉;李海霞;張同 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京長(zhǎng)安汽車工程技術(shù)研究有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01B5/06 | 分類號(hào): | G01B5/06 |
| 代理公司: | 重慶華科專利事務(wù)所 50123 | 代理人: | 康海燕 |
| 地址: | 100081 北京市海*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 檢測(cè) 制動(dòng) 厚度 裝置 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及汽車制動(dòng)系底盤檢驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
厚度差是制動(dòng)盤加工后形成的一個(gè)精度尺寸。該尺寸是車輛在制動(dòng)時(shí)產(chǎn)生抖動(dòng)的主要原因。
目前用于檢測(cè)厚度差的裝置主要由兩排共六個(gè)位移式傳感器、傳感器固定支架、制動(dòng)盤固定座、微處理器和顯示屏幕組成。使用時(shí),將制動(dòng)盤兩檢測(cè)面放置在位移傳感器之間,調(diào)整使傳感器接觸制動(dòng)盤檢測(cè)面,旋轉(zhuǎn)制動(dòng)盤幾周后,處理器將處理傳感器的信號(hào)并將結(jié)果厚度差和跳動(dòng)值顯示在顯示屏幕上,其優(yōu)點(diǎn)是精度高,缺點(diǎn)是造價(jià)貴,攜帶不便。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種用于檢測(cè)制動(dòng)盤厚度差的裝置和方法,采用簡(jiǎn)單的機(jī)械檢測(cè)裝置,運(yùn)用千分表將厚度差值讀出,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,成本低,檢測(cè)快速。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
????一種用于檢測(cè)制動(dòng)盤厚度差的裝置,其包括千分表、千分表安裝支架、彈性件、檢具支架和頂銷;所述千分表安裝支架為向側(cè)面開口的U形,其上臂和下臂上分別有通孔,上臂的通孔側(cè)面與一螺紋孔貫通,千分表的觸頭帶外套部分穿過(guò)該通孔,螺釘擰在螺紋孔內(nèi),并頂在千分表的外套上,緊固千分表,千分表觸頭伸進(jìn)千分表安裝支架的U形口內(nèi),作為該檢測(cè)設(shè)備的的上觸點(diǎn);在下臂的通孔中過(guò)盈壓裝有頂銷,頂銷上端嵌入滾珠或是做成圓弧形狀,作為該檢測(cè)設(shè)備的下觸點(diǎn),上、下觸點(diǎn)以點(diǎn)接觸的方式接觸制動(dòng)盤工作面;所述千分表安裝支架的一側(cè)通過(guò)彈性件使用緊固螺栓固定在檢具支架上,檢具支架固定在平臺(tái)上;在平臺(tái)上還固定有制動(dòng)盤放置臺(tái)面,為凸字型,用于放置被測(cè)制動(dòng)盤,制動(dòng)盤放置臺(tái)面上端中心的凸起供制動(dòng)盤的通孔穿過(guò)并對(duì)其定位,制動(dòng)盤放置臺(tái)面與千分表安裝支架的位置以制動(dòng)盤的被測(cè)部位能夠伸進(jìn)U形口,并與上、下觸點(diǎn)接觸為標(biāo)準(zhǔn)。
采用以上裝置進(jìn)行檢測(cè)的方法:先將被測(cè)制動(dòng)盤安裝到制動(dòng)盤放置臺(tái)面上,使被檢測(cè)部位伸進(jìn)千分表安裝支架的U形口,通過(guò)彈片的彈性作用使下觸點(diǎn)與被測(cè)制動(dòng)盤的下工作面保持接觸,將千分表調(diào)零,上觸點(diǎn)與下觸點(diǎn)形成制動(dòng)盤的初始厚度;用手然后旋轉(zhuǎn)制動(dòng)盤,制動(dòng)盤在旋轉(zhuǎn)中保持下觸點(diǎn)接觸,則上觸點(diǎn)的變化即是制動(dòng)盤厚度的變化,讀取千分表在制動(dòng)盤旋轉(zhuǎn)兩周中的峰值,即得到厚度差。
使用該裝置用于檢測(cè)制動(dòng)盤厚度差,精度可滿足工程使用,其造價(jià)便宜,體積相對(duì)小,可攜帶,檢測(cè)快速,可用于現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),如路試車抖動(dòng)問(wèn)題的現(xiàn)場(chǎng)分析。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是本發(fā)明的千分表安裝支架的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3是本發(fā)明的千分表安裝部分的局部連接示意圖。
圖4是本發(fā)明的千分表安裝支架的上臂安裝孔的剖面圖。
圖1中,1-被測(cè)制動(dòng)盤、2-制動(dòng)盤放置臺(tái)面、3-千分表、4-千分表安裝支架、41-上臂、42-下臂、5-彈性件、6-檢具支架、7-緊固螺栓、8-平臺(tái)、9-頂銷、10-下觸點(diǎn)、11-上觸點(diǎn)、12-外套、13-通孔、14-螺紋孔、15-螺釘。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明:
參見圖1,該裝置主要由千分表(3)、千分表安裝支架(4)、上下兩片彈片組成的彈性件(5)、檢具支架(6)和頂銷(9)等組成。
????參見圖2、圖3和圖4,千分表安裝支架(4)為一個(gè)橫臥的U形塊,其上臂(41)上有通孔(13),通孔側(cè)面有螺紋孔(14)貫通。千分表(3)的??安裝在通孔(13)內(nèi),螺釘(15)擰在螺紋孔(14)內(nèi),并頂在千分表的外套(12)上,使得千分表緊固。千分表觸頭伸進(jìn)U形口內(nèi),作為被測(cè)制動(dòng)盤(1)被檢測(cè)面的上觸點(diǎn)(11)。千分表支架下臂(42)上也有通孔,位置與上觸點(diǎn)相對(duì)。定銷(9)過(guò)盈的壓裝在千分表安裝支架下臂(42)的通孔內(nèi),頂銷上端可嵌入滾珠或是做成圓弧形狀,作為該檢測(cè)設(shè)備的下觸點(diǎn)(10),使其能夠以點(diǎn)接觸的方式接觸制動(dòng)盤(1)工作面。千分表安裝支架(4)通過(guò)兩個(gè)上下平行的薄彈片構(gòu)成的彈性件(5),使用緊固螺栓(7)固定在檢具支架(6)上,其主要的作用是確保下觸點(diǎn)(10)和制動(dòng)盤(1)能在檢驗(yàn)過(guò)程中保持接觸。千分表安裝支架(4)的一側(cè)通過(guò)彈性件(5)使用緊固螺栓(7)固定在檢具支架(6)上,檢具支架(6)固定在平臺(tái)(8)上。在平臺(tái)上還固定有制動(dòng)盤放置臺(tái)面(2),為凸字型,用于放置被檢測(cè)的制動(dòng)盤(1),制動(dòng)盤放置臺(tái)面上端中心的凸起供制動(dòng)盤的通孔穿過(guò)并對(duì)其定位,制動(dòng)盤放置臺(tái)面(2)與千分表安裝支架(4)的位置以制動(dòng)盤(1)的被測(cè)部位能夠伸進(jìn)U形口,并與上、下觸點(diǎn)接觸為標(biāo)準(zhǔn)。
測(cè)量方法:先將被測(cè)制動(dòng)盤(1)安裝到制動(dòng)盤放置臺(tái)面(2)上,使被檢測(cè)部位伸進(jìn)千分表安裝支架(4)的U形口,通過(guò)彈片(5)的彈性作用使下觸點(diǎn)(10)與被測(cè)件制動(dòng)盤(1)的下工作面保持接觸,上接觸點(diǎn)(11)與下接觸點(diǎn)(10)形成制動(dòng)盤的初始厚度。制動(dòng)盤(1)以制動(dòng)盤上的通孔作為定位,平放在凸字型的放置臺(tái)面(2)上,制動(dòng)盤(1)在旋轉(zhuǎn)中保持下點(diǎn)接觸,則上接觸點(diǎn)的變化即是制動(dòng)盤厚度的變化。因而制動(dòng)盤旋轉(zhuǎn)一至兩周后厚度差可直觀的從千分表上讀出。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京長(zhǎng)安汽車工程技術(shù)研究有限責(zé)任公司,未經(jīng)北京長(zhǎng)安汽車工程技術(shù)研究有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410426711.5/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





