[發明專利]芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法和裝置在審
| 申請號： | 201410425355.5 | 申請日： | 2014-08-26 |
| 公開（公告）號： | CN104156325A | 公開（公告）日： | 2014-11-19 |
| 發明（設計）人： | 黃紅偉;劉抒;金小英;夏蘭;廖炳隆 | 申請（專利權）人： | 上海華虹宏力半導體制造有限公司 |
| 主分類號： | G06F12/10 | 分類號： | G06F12/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人： | 潘彥君;駱蘇華 |
| 地址： | 201203 上海市浦東*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 邏輯 地址 物理地址 轉換 方法 裝置 | ||
1.一種芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，包括：
在所述芯片上選取失效區域；
破壞所述失效區域；
檢測所述失效區域，獲取所述失效區域中失效位存儲單元的邏輯地址；
根據預設的邏輯地址到物理地址的轉換關系，得到所述失效位存儲單元的邏輯地址對應的理論物理地址；
對所述芯片作物理失效分析，將所述失效位存儲單元的理論物理地址與所述失效區域的實際位置進行比較，得到理論物理地址到實際位置的偏移值；
根據所述偏移值，得到所述芯片的邏輯地址到物理地址的轉換關系。
2.如權利要求1所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，所述在所述芯片上選取失效區域包括：在所述芯片上選取至少兩個失效區域。
3.如權利要求1所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，所述失效位置區域包括設置于芯片頂角位置的失效區域以及設置于芯片中心位置的失效區域。
4.如權利要求1所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，所述失效區域包括至少三個失效位存儲單元；
至少兩個所述失效位存儲單元在字線方向上相鄰，且在字線方向上相鄰的兩個失效位存儲單元中的一個與至少另一個失效位存儲單元在位線方向上相鄰。
5.如權利要求1所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，所述破壞所述失效區域包括：通過匯聚激光束轟擊所述失效區域。
6.如權利要求1所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，所述破壞所述失效區域包括：通過匯聚離子束轟擊所述失效區域。
7.如權利要求1所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換方法，其特征在于，所述破壞所述失效區域之后還包括：
通過檢測所述失效區域的圖像和電參數信號強度，判斷所述失效區域是否已被切割到襯底位置。
8.一種芯片邏輯地址到物理地址的轉換裝置，其特征在于，包括：
選取單元，用于在所述芯片上選取失效區域；
切割控制單元，用于破壞所述失效區域；
獲取單元，用于檢測所述失效區域，獲取所述失效區域中失效位存儲單元的邏輯地址；
第一計算單元，用于根據預設的邏輯地址到物理地址的轉換關系，得到所述失效位存儲單元的邏輯地址對應的理論物理地址；
比較單元，用于對所述芯片作物理失效分析，將所述失效位存儲單元的理論物理地址與所述失效區域的實際位置進行比較，得到理論物理地址到實際位置的偏移值；
第二計算單元，根據所述偏移值，得到所述芯片的邏輯地址到物理地址的轉換關系。
9.如權利要求8所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換裝置，其特征在于，所述選取單元用于在所述芯片上選取至少兩個失效區域。
10.如權利要求8所述的芯片邏輯地址到物理地址的轉換裝置，其特征在于，所述失效區域包括至少三個失效位存儲單元；至少兩個所述失效位存儲單元在字線方向上相鄰，且在字線方向上相鄰的兩個失效位存儲單元中的一個與至少另一個失效位存儲單元在位線方向上相鄰。
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