[發明專利]測試方法、測試發起端、被測試端和測試系統

在審

• 申請號: 201410424986.5
• 申請日: 2014-08-26
• 公開（公告）號: CN104182920A
• 公開（公告）日: 2014-12-03
• 發明（設計）人: 牟芝慶
• 申請（專利權）人: 天脈聚源（北京）教育科技有限公司
• 主分類號: G06Q50/20
• 分類號: G06Q50/20
• 代理公司: 北京尚倫律師事務所 11477
• 代理人: 張亮

技術領域

本發明涉及客戶端應用技術領域，特別涉及測試方法、測試發起端、被測試端和測試系統。

背景技術

在當前教學領域，依然沿用傳統的測試手段對學生進行測試，比如教師發放試卷給學生，學生做完試卷之后提交給教師批閱。由于教師無法獲取到學生在答題過程中的信息，比如答題時長、答題進度等，因而，教師不能很好的了解學生對知識的掌握情況，教學效果無法輕松的提高。

發明內容

本發明實施例提供測試方法、測試發起端、被測試端和測試系統，用以提供一種有效的測試技術，幫助教師了解學生對知識的掌握情況。

本發明提供一種測試方法，用于測試發起端，包括：

接收輸入的試卷選擇指令；

將所述試卷選擇指令對應的試卷的標識發送給被測試端；

獲取所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息；

對所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息進行處理。

在一個實施例中，所述答題情況信息可包括以下任一種信息或多種信息：所述被測試端針對每道試題所做出的答案；所述被測試端在每道試題上花費的時長；每道試題的標識；所述被測試端在每道試題上的正確率；所述被測試端的答題進度。

在一個實施例中，所述對所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息進行處理，可包括：

根據至少兩個被測試端各自針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息，對所述試卷的答題情況進行統計分析，獲得答題統計結果；顯示所述答題統計結果、或者將所述答題統計結果發送給所述至少兩個被測試端；或者

將所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息，發送給所述其它被測試端；或者

顯示所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息；

其中，所述答題統計結果包括以下任一種信息或多種信息：所述至少兩個被測試端在每道試題上花費的時長統計信息；所述至少兩個被測試端在每道試題上的答題正確率信息；所述至少兩個被測試端對每道試題的完成度信息；所述至少兩個被測試端對所述試卷的完成度信息。

本發明實施例還提供了一種測試方法，用于被測試端，包括：

接收測試發起端發送的試卷的標識；

根據所述試卷的標識，從中控端獲取所述試卷；

顯示所述試卷；

獲取針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息；

將所述答題情況信息發送給所述測試發起端。

在一個實施例中，所述獲取針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息，可包括以下任一操作或多種操作：

獲取針對當前試題所做出的答案；

統計在當前試題上花費的時長；

獲取當前試題的標識；

根據當前試題的正確答案和所述針對當前試題所做出的答案，確定在當前試題上的正確率；

根據已答過的試題數目和試題總數目，確定答題進度。

在一個實施例中，上述方法還可包括：

接收所述測試發起端發送的答題統計結果；顯示所述答題統計結果，其中，所述答題統計結果包括以下任一種信息或多種信息：所述至少兩個被測試端在每道試題上花費的時長統計信息；所述至少兩個被測試端在每道試題上的答題正確率信息；所述至少兩個被測試端對每道試題的完成度信息；所述至少兩個被測試端對所述試卷的完成度信息；或者

接收所述測試發起端發送的其它被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息，并顯示該答題情況信息。

本發明實施例還提供了一種測試發起端，包括：

指令接收模塊，用于接收輸入的試卷選擇指令；

標識發送模塊，用于將所述試卷選擇指令對應的試卷的標識發送給被測試端；

信息獲取模塊，用于獲取所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息；

信息處理模塊，用于對所述被測試端針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息進行處理。

在一個實施例中，所述答題情況信息包括以下任一種信息或多種信息：所述被測試端針對每道試題所做出的答案；所述被測試端在每道試題上花費的時長；每道試題的標識；所述被測試端在每道試題上的正確率；所述被測試端的答題進度；

此時，所述信息處理模塊可包括：

處理子模塊，用于根據至少兩個被測試端各自針對所述試卷中每道試題所生成的答題情況信息，對所述試卷的答題情況進行統計分析，獲得答題統計結果；顯示所述答題統計結果、或者將所述答題統計結果發送給所述至少兩個被測試端；或者