[發明專利]模塊化檢查系統

在審

• 申請號: 201410424317.8
• 申請日: 2014-08-26
• 公開（公告）號: CN104422696A
• 公開（公告）日: 2015-03-18
• 發明（設計）人: K.A.庫姆布斯;J.L.斯科特
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N27/90;G01N29/04;G01N23/00;G01N25/72
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 葉曉勇;姜甜

技術領域

本文公開的主旨涉及檢查系統，其包括用于無損測試的模塊化檢查系統。

背景技術

無損測試檢查系統可以用于檢查目標物體來識別并且分析這些物體中的異常。無損測試允許檢查技術人員在目標物體的表面處或附近操縱檢查系統的探頭以便進行物體表面和/或底層結構的測試。無損測試在例如航空、發電以及油氣輸送或煉制的一些工業中可能特別有用，其中目標物體的檢查優選地在不將物體從環繞結構去除的情況下發生，并且其中將用別的方式不能被識別的隱藏異常可以被定位。

使用不同模態的若干不同的無損測試檢查系統是可獲得的。例如，視覺檢查系統可以用于通過將具有例如圖像傳感器和成像光學器件的視頻管道鏡探頭靠近目標物體放置而檢查目標物體來獲得并且顯示異常的視頻圖像。那些視頻圖像然后用于分析該異常，其包括進行高度準確的尺寸測量。根據應用和目標物體使用具有不同特性（例如，直徑、長度、光學特性、鉸接）的不同視頻管道鏡探頭。

渦流檢查系統也可以用于通過將具有例如生成變化磁場的渦流驅動器線圈的渦流探頭靠近目標物體的表面放置而檢查目標物體。變化磁場包括可以由渦流探頭中的渦流傳感器（例如，接收器線圈）感測的目標物體中的渦流。目標物體中異常的存在將引起渦流中的改變，可以監測該渦流的相位和幅度來檢測異常的存在。根據應用和目標物體（例如，管道、表面、子表面、緊固件孔、飛機輪、焊接）使用具有不同特性（例如，直徑、長度、頻率，等）的不同渦流探頭。

超時檢查系統還可以用于通過將具有例如傳送超聲信號的換能器的超聲探頭靠近目標物體的表面放置而檢查目標物體。超聲信號從目標物體的異常反射回來并且被超聲探頭的換能器接收。目標物體中異常的存在將通過分析接收的超聲信號的時序和幅度來確定。根據應用和目標物體使用具有帶不同特性（例如，頻率、節距、楔角）的換能器的不同超聲探頭。

射線檢查系統還可以用于使用x射線或毫米波源來檢查目標物體。另外，熱像檢查系統可以用于檢查目標物體。

這些檢查系統中的許多作為手持設備（或手持機）而可獲得。在一些檢查系統中，具有某些特性的特定探頭永久地附連到手持機。因此，如果對于特定檢查需要不同的探頭，即使該探頭是相同模態（例如，需要具有不同直徑或不同長度的視頻示波器探頭或需要具有不同頻率的渦流探頭），用戶將需要獲得完全不同的檢查系統而不是能夠只是替換探頭。相似地，如果檢查單元的探頭需要升級或更換，必須更換整個檢查單元（其包括手持機）。

在其他檢查系統中，手持機設計成容納來自不同模態的不同探頭。例如，可以提供視覺檢查系統手持機，其可以操作具有不同特性的不同內窺鏡探頭。然而，因為視覺檢查系統手持機包括操作視頻示波器探頭的部件（例如，鉸接、光源，等），它無法與使用不同模態和檢查技術的其他檢查系統探頭一起使用。如果需要不同的檢查探頭（例如，渦流探頭），將需要完全不同的檢查系統和手持機而不是能夠只是替換探頭。相似地，特定探頭可以典型地僅與特定手持機一起工作，其設計成操作該特定探頭，從而限制探頭的靈活性。

?上文的論述僅對于一般背景信息提供并且不意在用作確定要求保護的主旨的范圍的輔助手段。

發明內容

公開用于檢查目標物體的檢查系統。該檢查系統包括檢查模塊。該檢查模塊包括外殼、適于提供與目標物體有關的傳感器數據的傳感器、適于從傳感器接收傳感器數據并且提供對應封裝數據的檢查模塊處理器，和適于輸出來自檢查模塊處理器的封裝數據的檢查模塊接口。檢查系統還包括手持機，其適于選擇性地與檢查模塊機械接合。手持機包括手持機處理器、適于從檢查模塊接口接收封裝數據并且向手持機處理器提供封裝數據的手持機接口，和用戶輸出界面，其響應于手持機處理器基于封裝數據向用戶輸出關于目標物體的信息。

在一個實施例中，公開用于檢查目標物體的檢查系統。該檢查系統包括檢查模塊，其包括外殼、適于提供與目標物體有關的傳感器數據的傳感器、適于從傳感器接收傳感器數據并且提供對應封裝數據的檢查模塊處理器，和適于輸出來自檢查模塊處理器的封裝數據的檢查模塊接口，以及適于選擇性地與檢查模塊機械接合的手持機，該手持機包括手持機處理器、適于從檢查模塊接口接收封裝數據并且向手持機處理器提供封裝數據的手持機接口，和用戶輸出界面，其響應于手持機處理器基于封裝數據向用戶輸出關于目標物體的信息。