[發(fā)明專利]模塊化檢查系統(tǒng)檢查模塊無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410423458.8 | 申請日: | 2014-08-26 |
| 公開(公告)號: | CN104422695A | 公開(公告)日: | 2015-03-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | K.A.庫姆斯;J.L.斯科特;K.V.費爾滕 | 申請(專利權(quán))人: | 通用電氣公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01N27/90;G01N29/04;G01N23/00;G01N25/72 |
| 代理公司: | 中國專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 葉曉勇;姜甜 |
| 地址: | 美國*** | 國省代碼: | 美國;US |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 模塊化 檢查 系統(tǒng) 模塊 | ||
1.?一種用于目標(biāo)物體的視覺檢查的檢查模塊,所述檢查模塊包括:
外殼;
光源,其適于照亮所述目標(biāo)物體;
圖像傳感器,其適于提供與所述目標(biāo)物體有關(guān)的圖像數(shù)據(jù);
鉸接驅(qū)動器,其適于使所述圖像傳感器移動;
檢查模塊處理器,其適于從所述圖像傳感器接收所述圖像數(shù)據(jù)并且提供對應(yīng)封裝數(shù)據(jù);以及
檢查模塊接口,其適于輸出來自所述檢查模塊處理器的所述封裝數(shù)據(jù)。
2.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述封裝數(shù)據(jù)是由所述檢查模塊處理器格式化的圖像傳感器數(shù)據(jù)。
3.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊不包括用戶輸入界面。
4.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊不包括用戶輸出界面。
5.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊進(jìn)一步包括數(shù)據(jù)連接器,其適于將數(shù)據(jù)傳送到標(biāo)準(zhǔn)計算機(jī)。
6.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊進(jìn)一步包括控制連接器,其適于從標(biāo)準(zhǔn)計算機(jī)接收控制信號。
7.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其進(jìn)一步包括使所述圖像傳感器連接到所述外殼的細(xì)長支承構(gòu)件。
8.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊處理器適于接收控制信號并且響應(yīng)于所述接收的控制信號自動控制所述鉸接驅(qū)動。
9.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊處理器適于接收控制信號并且響應(yīng)于所述接收的控制信號自動控制所述光源。
10.?如權(quán)利要求1所述的檢查模塊,其中所述檢查模塊配置成與具有用戶界面的手持機(jī)機(jī)械和電接合。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





