[發明專利]一種基于PCI總線的頻率特性測試裝置和方法有效
| 申請號: | 201410422585.6 | 申請日: | 2014-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN104678169B | 公開(公告)日: | 2018-08-31 |
| 發明(設計)人: | 汪遠銀;岳良;齊飛 | 申請(專利權)人: | 北京天高智機技術開發公司 |
| 主分類號: | G01R23/16 | 分類號: | G01R23/16 |
| 代理公司: | 北京驥馳知識產權代理有限公司 11422 | 代理人: | 唐曉峰 |
| 地址: | 100076 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 pci 總線 頻率特性 測試 裝置 方法 | ||
本發明提供一種基于PCI總線的頻率特性測試裝置和方法,涉及電學領域,用于解決現有的頻率特性測試裝置結構復雜、價格昂貴、體積大不易攜帶等問題。該裝置包括:PCI總線、信號生成模塊、信號輸入輸出模塊、數據處理模塊;信號生成模塊在計算器上生成測試用的多通道正弦信號并將其通過PCI總線發送給信號輸入輸出模塊輸出給測試對象,信號輸入輸出模塊采集各通道對應的測試對象的頻率響應信號并通過PCI總線反饋給計算機端的數據處理模塊,數據處理模塊計算得到頻率響應信號的相頻特性曲線和幅頻特性曲線。本發明提供的測試裝置結構簡單、價格便宜、體積小易攜帶的特點。
技術領域
本發明屬于電學領域,尤其涉及一種基于PCI總線的頻率特性測試裝置和方法。
背景技術
頻率特性常用于分析系統穩定性和其它運動特性。常用的頻率特性測試方法為:在所考察的頻率范圍內選擇若干個頻率值的正弦信號作為激勵信號,并分別測量各個激勵信號下的激勵響應,然后通過一定的算法求出響應信號的頻率特性。因此常規的頻率特性測試儀一般由信號生成模塊、信號采集模塊、幅值相位檢測裝置、顯示模塊等四部分組成,現有的頻率特性測試儀中信號生成模塊,幅值相位檢測裝置,顯示模塊等均采用硬件來實現,其結構復雜,價格昂貴,另外還需配有專門的人機交互模塊及電源模塊,因此設備體積較大,攜帶不便,且受硬件條件的限制,人機交互簡單,設置不靈活,而且不能顯示幅頻特性曲線,不能得到相頻特性曲線,更不能打印被測網絡的頻響曲線。因此,急需一種結構簡單、價格便宜、體積小易攜帶,且能顯示幅頻特性曲線和相頻特性曲線的頻率特性測試裝置來解決現有技術所存在的上述問題。
發明內容
本發明提供一種基于PCI總線的頻率特性測試裝置和方法,用于解決現有的頻率特性測試裝置結構復雜、價格昂貴、體積大不易攜帶、不能顯示幅頻特性曲線和得到相頻特性曲線的問題。
本發明提供了一種基于PCI總線的頻率特性測試裝置,包括:PCI總線、信號生成模塊、信號輸入輸出模塊、數據處理模塊;所述信號生成模塊和所述數據處理模塊通過所述PCI總線與所述信號輸入輸出模塊相連;
所述信號生成模塊用于向用戶提供人機輸入界面,并根據用戶輸入的各通道的信號頻率列表,生成相應的正弦信號,并通過所述PCI總線將各通道的正弦信號發送給所述信號輸入輸出模塊;
所述信號輸入輸出模塊將來自所述PCI總線的各通道的正弦信號發送給各通道對應的測試對象;同時采集各通道對應的測試對象的頻率響應信號,并將采集的各通道對應的測試對象的頻率響應信號通過所述PCI總線發送給所述數據處理模塊;
所述數據處理模塊根據來自所述PCI總線的各通道對應的測試對象的頻率響應信號,計算各通道對應的測試對象的頻率響應信號的幅值和相位值,并將其生成各通道對應的測試對象的頻率響應信號的相頻特性曲線和幅頻特性曲線。
優選地,所述數據處理模塊還用于將各通道對應的測試對象的頻率響應信號的幅值和相位值進行存儲、圖形顯示和/或報表打印。
優選地,所述信號生成模塊包括:通道信號配置模塊和計算機生成信號模塊;所述計算機生成信號模塊一端與所述通道信號配置模塊連接,另一端與所述PCI總線連接;所述通道信號配置模塊,用于向用戶提供輸入各通道信號頻率列表的人機輸入界面;所述計算機生成信號模塊根據用戶輸入的各通道的信號頻率列表,生成相應的正弦信號,并通過所述PCI總線將各通道的正弦信號發送給所述信號輸入輸出模塊。
優選地,所述信號輸入輸出模塊包括:信號輸出模塊和信號輸入模塊;所述信號輸出模塊接收來自所述PCI總線各通道的正弦信號,并將該信號發送給各通道對應的測試對象;所述信號輸入模塊采集各通道對應的測試對象的頻率響應信號,并將采集的各通道對應的測試對象的頻率響應信號通過所述PCI總線發送給所述數據處理模塊。
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