[發(fā)明專利]一種楔形硅結(jié)構(gòu)陣列的制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410421996.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-08-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN105366631B | 公開(公告)日: | 2017-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 俞驍;曾春紅;張寶順 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所 |
| 主分類號(hào): | B81C1/00 | 分類號(hào): | B81C1/00 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44304 | 代理人: | 孫偉峰,武岑飛 |
| 地址: | 215123 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 楔形 結(jié)構(gòu) 陣列 制作方法 | ||
1.一種楔形硅結(jié)構(gòu)陣列的制作方法,其特征在于,包括步驟:
A)在襯底上鍵合形成預(yù)定厚度的硅層;
B)在所述預(yù)定厚度的硅層上形成多個(gè)掩膜條;
C)將所述硅層的未被所述掩膜條覆蓋的部分去除;
D)將所述掩膜條去除,以將所述硅層的被所述掩膜條覆蓋的部分暴露;
E)在步驟D)中暴露的所述硅層的側(cè)斜壁上涂布多個(gè)光刻膠;
F)將步驟E)中未被所述光刻膠覆蓋的硅層去除;
G)將步驟E)中涂布的所述光刻膠去除,從而形成陣列排布的楔形硅結(jié)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述傾斜壁與所述襯底的表面的夾角為50°至60°。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述襯底的材料為玻璃,其中,所述步驟A)的具體方法包括:
將由玻璃形成的襯底與硅片進(jìn)行陽(yáng)極鍵合;
將所述硅片減薄,以形成所述預(yù)定厚度的硅層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的制作方法,其特征在于,所述預(yù)定厚度等于所述楔形硅結(jié)構(gòu)的高度。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的制作方法,其特征在于,所述硅片為雙面拋光的硅片。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,在步驟B)中,所述多個(gè)掩膜條等間距排列。
7.根據(jù)權(quán)利要求1或6所述的制作方法,其特征在于,所述步驟B)的具體方法包括:
在所述預(yù)定厚度的硅層上形成掩膜層;
在所述掩膜層上等間距涂布光刻膠;
將所述掩膜層的未被光刻膠覆蓋的部分去除;
將涂布的光刻膠去除,從而形成等間距排列的所述多個(gè)掩膜條。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述多個(gè)掩膜條之間的間距不小于所述楔形硅結(jié)構(gòu)的高度的1.15倍。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,在步驟E)中,所述多個(gè)光刻膠等間距排列。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述硅層的被所述掩膜條覆蓋的部分的截面形狀為梯形形狀。
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