[發(fā)明專利]一種跨平臺測試裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410417488.8 | 申請日: | 2014-08-22 |
| 公開(公告)號: | CN105446866A | 公開(公告)日: | 2016-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 沈哲豪;胡詠昕;嚴(yán)自陵;賀云朋;陳良波 | 申請(專利權(quán))人: | 全智科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36;G06F11/26 |
| 代理公司: | 廈門市新華專利商標(biāo)代理有限公司 35203 | 代理人: | 朱凌 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 平臺 測試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明為提供一種跨平臺測試裝置,尤指一種可以一種開發(fā)接口在不同的測試機臺及不同的程序語言間都能共享,進(jìn)而大幅提升開發(fā)效率及機臺調(diào)派自由度的跨平臺測試裝置。
背景技術(shù)
按,每一種產(chǎn)業(yè)都會有大量生產(chǎn)某一種產(chǎn)品的需求,如何做好質(zhì)量管制是維持商譽的重要指標(biāo),而對科技業(yè)而言,產(chǎn)品外觀的完整只是基本要求,內(nèi)部功能正常及操作過程順暢才是產(chǎn)品質(zhì)量的保證,加上現(xiàn)今的IC設(shè)計復(fù)雜度日益增加,尤其應(yīng)用在無線通信上的RFIC更佳顯著,設(shè)計復(fù)雜度及技術(shù)困難度導(dǎo)致良率降低,而封裝成本增加,為了減少封裝的浪費,RFIC在封裝前的晶圓階段測試更顯重要。因此,對每一種大量的產(chǎn)品進(jìn)行相同的測試,乃質(zhì)量把關(guān)最重要的動作。
市面上的測試機臺供貨商非常多,而絕大部分控制機臺的方式都不一樣,甚至無法相通,同時往往也都是在不同的程序語言下開發(fā)的(如LabVIEW、C++等),加上機器不斷的更新改版,不可能所有機臺的使用接口都能同步進(jìn)化升級。明明是相同的測試需求,一旦要在多種機臺上獨立進(jìn)行開發(fā),即便是相同的語言,由于測試設(shè)備不同,仍需重新開發(fā)。
然上述測試機臺于使用時,為確實存在下列問題與缺失尚待改進(jìn):
一、相同的測試為了于不同機臺作業(yè),就必須重新開發(fā)。
二、機臺種類越多,對于測試工程師的負(fù)擔(dān)越重。
三、對廠商而言,需耗費較多人力資源。
是以,要如何解決上述習(xí)用的問題與缺失,即為本發(fā)明的申請人與從事此行業(yè)的相關(guān)廠商所亟欲研究改善的方向所在者。
發(fā)明內(nèi)容
故,本發(fā)明的申請人有鑒于上述缺失,乃搜集相關(guān)資料,經(jīng)由多方評估及考慮,并以從事于此行業(yè)累積的多年經(jīng)驗,經(jīng)由不斷試作及修改,始設(shè)計出此種供不同的測試設(shè)備于相同的開發(fā)接口運作,讓原本不同程序語言的測試設(shè)備都能相通,使設(shè)備的調(diào)度更靈活,對開發(fā)時間也有明顯幫助的跨平臺測試裝置的發(fā)明專利者。
本發(fā)明的主要目的在于:供使用者將測試需求輸入端提供的內(nèi)容及其格式,經(jīng)由測試條件編譯裝置以一種固定格式編輯供轉(zhuǎn)換裝置讀取,再經(jīng)由轉(zhuǎn)換模塊配合各測試設(shè)備轉(zhuǎn)換為可被判讀的格式,而不再需要針對各測試設(shè)備的不同操作接口逐一開發(fā)。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明的解決方案是:
一種跨平臺測試裝置,包含:
一測試需求輸入端;
一與該測試需求輸入端信息鏈接的測試條件編譯裝置,該測試條件編譯裝置將該測試需求輸入端的輸入格式編譯為下述轉(zhuǎn)換裝置可讀取的格式;
一與該測試條件編譯裝置信息鏈接的轉(zhuǎn)換裝置,該轉(zhuǎn)換裝置包含至少一轉(zhuǎn)換模塊,該轉(zhuǎn)換模塊將該測試條件編譯裝置編譯完成的格式轉(zhuǎn)換為下述測試設(shè)備可判讀的格式;
一與該轉(zhuǎn)換模塊信息鏈接的測試設(shè)備。
進(jìn)一步,該測試需求輸入端的格式為excel。
進(jìn)一步,該測試需求輸入端包含至少一測試項目。
進(jìn)一步,該測試條件編譯裝置包含一測試條件輸入端及一與該轉(zhuǎn)換裝置信息鏈接的編譯模塊。
進(jìn)一步,該編譯模塊以VB的程序語言(VisualBasic)進(jìn)行編譯。
進(jìn)一步,該測試設(shè)備可判讀的格式為實驗室虛擬儀表工作平臺(LaboratoryVirtualInstrumentEngineeringWorkbench,LabVIEW)、Matlab、C或C++。
進(jìn)一步,該測試設(shè)備為自動測試設(shè)備(AutoTestEquipment,ATE)。
俾當(dāng)用戶在執(zhí)行測試程序的開發(fā)時,都可以透過測試需求輸入端將欲測試的內(nèi)容輸入測試條件編譯裝置后,以其固定接口編輯成轉(zhuǎn)換裝置得以讀取的格式,且每種不同的測試內(nèi)容都只要透過測試條件編譯裝置一次性的編譯,即可透過轉(zhuǎn)換模塊轉(zhuǎn)換為各種不同控制方式的測試設(shè)備所能判讀之格式。藉此,大幅減輕測試工程師的負(fù)擔(dān)。
借由上述技術(shù),可針對習(xí)用測試機臺所存在的針對同一種測試需求必須配合不同機臺的控制方式重復(fù)開發(fā),相當(dāng)費時費力的問題點加以突破,達(dá)到上述優(yōu)點的實用進(jìn)步性。
附圖說明
圖1為本發(fā)明較佳實施例的立體圖;
圖2為本發(fā)明較佳實施例的結(jié)構(gòu)方塊圖;
圖3為本發(fā)明較佳實施例的結(jié)構(gòu)方塊示意圖;
圖4為本發(fā)明較佳實施例的實施方式流程圖。
【符號說明】
測試需求輸入端1
測試項目11
測試條件編譯裝置2
測試條件輸入端21
編譯模塊22
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