[發明專利]天線在審
| 申請號: | 201410410737.0 | 申請日: | 2014-08-20 |
| 公開(公告)號: | CN104425864A | 公開(公告)日: | 2015-03-18 |
| 發明(設計)人: | 志村元;守田淳 | 申請(專利權)人: | 佳能株式會社 |
| 主分類號: | H01Q1/00 | 分類號: | H01Q1/00;H01Q1/36 |
| 代理公司: | 北京怡豐知識產權代理有限公司 11293 | 代理人: | 遲軍 |
| 地址: | 日本東京都*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 天線 | ||
技術領域
本發明涉及天線,具體地,涉及用于天線配置的技術。
背景技術
近年來,在各種類型的電子設備中安裝了無線通信功能。許多電子設備需要減小尺寸。隨著這種需要,需要在這些電子設備的小空間中實現用于無線通信的天線。在這種情形下,日本特開第2012-085215號公開公開了如下天線結構:具有在不使用從基板的平面大大突出的任何組件的情況下,僅使用基板和導電圖案而形成的天線。另外,日本特開第2003-008325號公開了被配置為具有分別布置在絕緣基板的各個表面上的第一和第二天線的占有區域中的第一和第二天線的天線。根據日本特開第2003-008325號公報,通過使當從相對于絕緣基板的表面的直角方向觀看時,第一和第二天線的占有區域至少部分彼此重疊,來實現包括多個天線的天線裝置的尺寸減小。日本特開第2002-504770號公報公開了包括如下兩個輻射元件的緊湊型平面分集天線:固定到電介質基板的兩個表面并且在不饋電的情況下耦合,以在兩個相鄰的頻帶中協同共振。
隨著使用多個天線的MIMO通信功能的安裝等,越來越需要減小天線的尺寸。另一方面,天線的尺寸減小有時導致無法確保令人滿意的天線性能。即,傳統天線難以在確保令人滿意的天線性能的同時,實現令人滿意的天線尺寸的減小。
考慮到上述問題而作出本發明,本發明提供一種在確保天線性能的同時便于天線的尺寸減小的技術。
發明內容
根據本發明的一個方面,提供一種天線,所述天線包括:饋電點;第一導體,其連接到所述饋電點,包括未連接到所述饋電點的端部作為開放端,并且具有線性形狀;以及第二導體,其被形成為從所述第一導體分支,包括從所述第一導體分支的點的相反側上的端部作為開放端,并且具有線性形狀,其中,所述第一導體的至少一部分和所述第二導體的至少一部分形成在不同的平面上,并且包括彼此電磁耦合的耦合部分。
通過以下對示例性實施例的描述(參照附圖),本發明的其他特征將變得清楚。
附圖說明
包含在說明書中、構成說明書的一部分的附圖,示出了本發明的實施例,并且與文字描述一起,用于解釋本發明的原理。
圖1A是示出傳統單頻天線的布置的正視圖,圖1B是該天線的透視圖;
圖2A和圖2B是示出圖1A和圖1B中的單頻天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖3A是示出具有分支部分的天線的布置的正視圖;圖3B是該天線的透視圖;
圖4A至圖4C是示出當分支部分的長度改變時,圖3A和圖3B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖5A是示出根據布置示例1的天線的布置的正視圖;圖5B是該天線的透視圖;
圖6A至圖6C是示出當分支部分的開放端的位置改變時,圖5A和圖5B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖7A是示出根據布置示例1的其他天線的布置的正視圖;并且圖7B是該天線的透視圖;
圖8A至圖8C是示出當分支部分和主體部分之間的距離落在預定距離內的部分的長度改變時,圖7A和圖7B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖9A是示出根據布置示例2的天線的布置的正視圖;圖9B是該天線的透視圖;
圖10A至圖10C是示出當分支部分和主體部分之間的距離落在預定距離內的部分的長度改變時,圖9A和圖9B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖11是示出在沒有任何分支部分的情況下,圖9A和圖9B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖12A是示出根據布置示例3的天線的布置的正視圖;圖12B是該天線的透視圖;
圖13A至圖13C是示出當導體寬度改變時,圖12A和圖12B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖14A是示出根據布置示例3的其他天線的布置的正視圖;圖14B是該天線的透視圖;
圖15是示出圖14A和圖14B中的天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖16A至圖16C是示出當導體寬度改變時,具有與圖7A和圖7B中的天線類似的結構的雙頻天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;
圖17A至圖17C是示出當導體寬度改變時,具有與圖9A和圖9B中的天線類似的結構的雙頻天線的反射特性(S11)的仿真結果的曲線圖;以及
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于佳能株式會社,未經佳能株式會社許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410410737.0/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





