[發明專利]一種oLED顯示器的像素的測量方法

無效

• 申請號: 201410407482.2
• 申請日: 2014-08-18
• 公開（公告）號: CN104157230A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發明（設計）人: 黎守新
• 申請（專利權）人: 成都晶砂科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G09G3/32
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

1.一種oLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述測量方法包括如下步驟：

將oLED顯示器的像素進行分組，將所述oLED顯示器的N₁個像素劃分成N₂個組，所述組中由M₁個像素構成，_，其中，N₁≥1，M₁≥1，N₂≥1，N₁是所述oLED顯示器的像素總數目，各個分組的像素個數M₁可以不同；同一組中的像素滿足如下要求：同一個組中M₁個像素同時發光時，同一組中的發光像素之間不受干擾，所述像素之間不受干擾是指：同一組中的像素映射到測量oLED顯示器的圖像采集設備的感光單元之間保持相互不受干擾的距離；

OLED像素分組可以進一步細分為子像素分組，每個像素分組都分解為K個子像素的分組；K為構成該像素的子像素個數；?測量OLED顯示器的同一組中的子像素的發光信息，OLED顯示器中分在同一組中的子像素輸入相同的參數使其發光，圖像采集設備采集此時OLED顯示器的同一組中子像素的發光信息；

OLED顯示器的所有分組的子像素進行測量后，將所有分組的子像素的發光信息合并在一起，完成OLED顯示器所有的子像素發光信息的測量。

2.如權利要求1所述的一種oLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述的測量方法中采集的子像素發光信息是亮度信息和/或顏色純度信息。

3.如權利要求1或2任一權利要求所述的一種oLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述的測量方法中同一組中的子像素輸入相同的參數是指：相同的子像素輸入灰階和子像素曝光時間。

4.如權利要求3所述的一種OLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述測量方法可以采用至少一個圖像采集設備采集oLED顯示器的子像素的發光信息。

5.如權利要求3所述的一種OLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述測量方法可以采用1個圖像采集設備多次采集oLED顯示器的子像素的發光信息。

6.如權利要求4或5任一權利要求所述的一種OLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，圖像采集設備采集的子像素的發光信息是圖像形式的發光圖像像素點集。

7.如權利要求6所述的一種OLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述測量方法中，子像素輸入相同的參數時，如所述的oLED顯示器子像素不發光，增加其對應的所述圖像采集設備采集的發光圖像像素點集的中心點；子像素停止輸入相同的參數時，如所述的oLED顯示器子像素一直發光不能關閉時，刪除其對應的所述圖像采集設備采集的發光圖像像素點集的中心點。

8.如權利要求7所述的一種oLED顯示器的像素的測量方法，其特征在于，所述測量方法，能夠適用于RGB系統也可以適用于RGBW系統。