[發明專利]一種晶體振蕩器老化特性的自動測試方法及系統

有效

• 申請號: 201410407300.1
• 申請日: 2014-08-18
• 公開（公告）號: CN104198846B
• 公開（公告）日: 2017-03-22
• 發明（設計）人: 李坤然
• 申請（專利權）人: 廣東大普通信技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 胡彬,路凱

1.一種晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，包括：

按照配置的老化特性測試參數啟動晶振測量單元，以監控待測晶體振蕩器；

按照預設的頻率采集時間間隔產生頻率采集信號，向晶振測量單元發送所述頻率采集信號以采集待測晶體振蕩器在對應時間點的頻率；

接收晶振測量單元返回的待測晶體振蕩器在對應時間點的頻率；

當確定出待測晶體振蕩器的老化特性測試完成時，對接收到的所述頻率進行數據處理，得出待測晶體振蕩器的老化特性。

2.根據權利要求1所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，所述老化特性測試參數包括：待測晶體振蕩器的工作電壓、電流、溫濕度以及通電燒鐘延時；

所述按照預先配置的老化特性測試參數啟動晶振測量單元具體為：

向晶振測量單元發送配置參數信息啟動晶振測量單元，使其為待測晶體振蕩器提供對應的工作電壓、電流、溫濕度條件。

3.根據權利要求1所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，所述頻率采集時間間隔為0.5～2小時。

4.根據權利要求1所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，所述確定出待測晶體振蕩器的老化特性測試完成的方式為：當接收到的所述頻率的個數達到預設的總采集數時，確定為待測晶體振蕩器的老化特性測試完成。

5.根據權利要求1所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，所述對接收到的所述頻率進行數據處理，得出待測晶體振蕩器的老化特性具體包括:

分別計算各頻率與待測晶體振蕩器輸出的標稱頻率的頻率差值；

根據所述頻率差值、對應的采集時間得出待測晶體振蕩器的XY坐標老化曲線；其中，以采集時間作為X軸，以頻率差值作為Y軸；

根據該XY坐標老化曲線確定待測晶體振蕩器的老化特性。

6.根據權利要求5所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，所述根據所述頻率差值、對應的采集時間得出待測晶體振蕩器的XY坐標老化曲線具體包括：

對所述頻率差值組成的數據集進行移動平均濾波處理，以濾掉噪聲數據；

根據濾波之后的頻率差值數據集、對應的采集時間點得出待測晶體振蕩器的XY坐標老化曲線。

7.根據權利要求5所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試方法，其特征在于，所述根據該XY坐標老化曲線確定待測晶體振蕩器的老化特性，包括：

根據所述XY坐標老化曲線得出對應的曲線方程式，計算該曲線方程式在設定的老化測試時間段內的最大值M和最小值N；

通過公式(M-N)/t計算出待測晶體振蕩器的日老化率；其中，t為老化測試的總天數；

根據所述日老化率模擬計算得出待測晶體振蕩器的年老化率；

將所述日老化率、年老化率與預設的該待測晶體振蕩器的老化特性指標進行比較，確定出待測晶體振蕩器的老化特性是否合格。

8.一種晶體振蕩器老化特性的自動測試系統，其特征在于，包括晶振測量單元、與所述晶振測量單元通信連接的測量控制單元，其中，

所述測量控制單元包括：

參數配置子單元，用于配置老化特性測試參數，向所述晶振測量單元發送參數配置信息；

流程控制子單元，用于按照預設的頻率采集時間間隔產生頻率采集信號，向晶振測量單元發送所述頻率采集信號；

頻率接收子單元，用于接收晶振測量單元返回的待測晶體振蕩器在對應時間點的頻率；

數據處理子單元，用于當確定出待測晶體振蕩器的老化特性測試完成時，對接收到的所述頻率進行數據處理，得出待測晶體振蕩器的老化特性；

所述晶振測量單元，用于根據所述參數配置信息為待測晶體振蕩器提供的對應的測試環境；以及用于根據所述頻率采集信號測量待測晶體振蕩器在對應時間點的頻率。

9.根據權利要求8所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試系統，其特征在于，所述測量控制單元與所述晶振測量單元通過RS232通信接口和USB數據接口連接；

所述測量控制單元通過RS232通信接口以數據包的形式向所述晶振測量單元發送參數配置信息，所述晶振測量單元通過USB數據接口向所述測量控制單元返回測量到的待測晶體振蕩器在對應時間點的頻率。

10.根據權利要求8所述的晶體振蕩器老化特性的自動測試系統，其特征在于，所述對接收到的所述頻率進行數據處理，得出待測晶體振蕩器的老化特性具體包括：

分別計算各所述頻率與待測晶體振蕩器輸出的標稱頻率的頻率差值；

對所述頻率差值組成的數據集進行移動平均濾波處理，以濾掉噪聲數據；

根據濾波之后的頻率差值數據集、對應的采集時間點得出待測晶體振蕩器的XY坐標老化曲線，其中，以采集時間作為X軸，以頻率差值作為Y軸；

根據該XY坐標老化曲線確定待測晶體振蕩器的老化特性。