[發明專利]應用重復曝光的多曝光影像混合的檢測方法

有效

• 申請號: 201410406034.0
• 申請日: 2014-08-18
• 公開（公告）號: CN105277574B
• 公開（公告）日: 2018-04-03
• 發明（設計）人: 汪光夏;陳輝毓
• 申請（專利權）人: 牧德科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司44202
• 代理人: 段建軍

1.一種應用重復曝光的多曝光影像混合的檢測方法，其特征在于，包含：

步驟S100：設定第一組態下的具不同波長段及照射角度此二者的至少其中之一的多個光源裝置各自的曝光時間值，這些曝光時間值組成總曝光時間；

步驟S200：進行重復曝光而依序使這些光源裝置開啟對應的曝光時間值后關閉，以使這些光源裝置依序照射至待測電路基板上并由影像捕獲設備產生這些曝光時間值內由不同波長段及照射角度此二者的至少其中之一的光線所混合的檢測影像；及

步驟S300：輸出該檢測影像以供分析檢查,并直接由該檢測影像判斷出該待測電路基板的缺陷。

2.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在該步驟S200后還包含步驟S210：判定是否有其他組態的光源裝置，于“否”時進入步驟S300，于“是”時進入步驟S220而進行另一組態下的多個光源裝置各自的曝光時間值的設定再回到步驟S200以產生另一檢測影像供分析檢查。

3.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，該第一組態的光源裝置包含可見光波段發光裝置及不可見光波段發光裝置。

4.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在該待測電路基板上的金屬線路是否斷開的判斷下，該第一組態的光源裝置為可見光波段發光裝置及紫外光波段發光裝置，該可見光波段發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例小于該紫外光波段發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例。

5.如權利要求4所述的檢測方法，其特征在于，該可見光波段發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例為30％，該紫外光波段發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例為70％。

6.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在該待測電路基板上的金屬線路是否有凸出的判斷下，該第一組態的光源裝置為可見光波段發光裝置及紫外光波段發光裝置，該可見光波段發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例等于該紫外光波段發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例。

7.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，在該待測電路基板上的綠漆表面是否有缺陷的判斷下，該第一組態的光源裝置為側光發光裝置及正光發光裝置，該側光發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例等于該正光發光裝置的曝光時間值占該總曝光時間的比例。