[發(fā)明專利]熒光滲透檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410405972.9 | 申請(qǐng)日: | 2014-08-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104165893A | 公開(公告)日: | 2014-11-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱立寶;張曉光;臧進(jìn);杜鵬飛;劉長(zhǎng)亮;付亞男;王艷霞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津戴卡輪轂制造有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/91 | 分類號(hào): | G01N21/91 |
| 代理公司: | 天津盛理知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 12209 | 代理人: | 高璇 |
| 地址: | 300457 天津市濱*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 熒光 滲透 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種熒光滲透檢測(cè)系統(tǒng),包括前浸洗池、前烘干機(jī)、浸洗池、噴洗裝置、烘干裝置以及顯像工作臺(tái),所述前浸洗池、前烘干機(jī)、浸洗池、噴洗裝置、烘干裝置以及顯像工作臺(tái)之間通過(guò)傳送輥依次順序設(shè)置,其特征在于:前烘干機(jī)與浸洗池之間安裝熒光滲透池,該熒光滲透池的輸入端通過(guò)傳送輥連接到前烘干機(jī),熒光滲透池的輸出端通過(guò)傳送輥連接到浸洗池;熒光滲透池內(nèi)盛放滲透劑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熒光滲透檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于:所述顯像工作臺(tái)上安裝有紫外線燈,觀察時(shí)燈光距濾光片64cm處,紫外線光強(qiáng)≥1000μw/cm。
3.一種熒光滲透檢測(cè)方法,其特征在于:具體檢測(cè)步驟為:
(1)上料,將待檢測(cè)的車輪工件平穩(wěn)放置在檢測(cè)系統(tǒng)的傳送輥上;
(2)預(yù)清洗,車輪工件依次經(jīng)過(guò)前浸洗池以及前烘干機(jī),對(duì)車輪工件進(jìn)行滲透前清潔處理;避免妨礙滲透液進(jìn)入車輪工件的缺陷,前浸洗時(shí)間為480s±10s,前烘干時(shí)間為480s±10s;
(3)熒光滲透,通過(guò)升降機(jī)械手使車輪工件完全浸入熒光滲透池內(nèi),熒光滲透池內(nèi)的熒光滲透劑濕潤(rùn)被檢表面,滲透時(shí)間為480s±10s;低落時(shí)間:480s±10s;溫度:10℃~40℃;
(4)浸洗,將車輪工件浸入浸洗池內(nèi)持續(xù)時(shí)間480s±10s;水溫40-60℃;水溫45±5℃;
(5)噴洗,時(shí)間240s±10s,對(duì)于車輪工件上浸洗時(shí)難以清洗的死角位置進(jìn)行噴水清洗;
(6)烘干,時(shí)間300s±10s,要求達(dá)到無(wú)目視可見水珠;
(7)顯像及觀察,車輪工件放置于顯像工作臺(tái)上,顯像為時(shí)間360s±10s,參見附圖3所示,在工件表面涂覆有顯像劑,用紫外線激發(fā)這部分滲透劑產(chǎn)生熒光,顯示出缺陷的位置和尺寸,實(shí)現(xiàn)對(duì)工件表面開口缺陷的檢測(cè);觀察時(shí),紫外線燈安裝在距濾光片64cm處,紫外線光強(qiáng)≥1000μw/cm;滲透檢測(cè)要求較高的照度,被檢測(cè)物表面上可見光照度應(yīng)在1000lx以上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的熒光滲透檢測(cè)方法,其特征在于:步驟(4)浸洗的浸洗池內(nèi)換液頻次50只/次;換液要求是水位離預(yù)清洗槽平面40±5cm;清洗劑加入量1000±50ml;消泡劑加入量500±50ml。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于天津戴卡輪轂制造有限公司,未經(jīng)天津戴卡輪轂制造有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410405972.9/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





