[發明專利]一種基于收斂CEV的威布爾型截尾特性控制圖的制作方法

有效

• 申請號: 201410403698.1
• 申請日: 2014-08-15
• 公開（公告）號: CN104331592B
• 公開（公告）日: 2017-12-26
• 發明（設計）人: 何益海;王林波;何珍珍
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京慧泉知識產權代理有限公司11232
• 代理人: 王順榮,唐愛華

1.一種基于收斂CEV的威布爾型截尾特性控制圖的制作方法，假設條件如下：

假設1過程是可測量；

假設2過程檢測值是右截尾型質量特性；

假設3測量值相互獨立；

假設4過程檢測值服從威布爾分布；

假設5過程期望誤報警率R_f一定；

基于上述假設，所述的制作方法，其特征在于：其步驟如下：

步驟1收集過程中右截尾質量檢測數據；

步驟2建立右截尾型質量特性的密度分布函數及考慮截尾因素的對數極大似然函數；

步驟3明確截尾數據的截尾期望值與質量特性的潛在分布形式的相關函數關系；

該相關函數關系為v_c＝E_c{(X,θ)|(X,θ)≥C}＝h(θ)，

且有

步驟4擬真還原初始質量檢測數據并確定截尾過程分布參數與截尾期望值的函數關系；

步驟5迭代步驟2—步驟4至參數值所需精度，并確定收斂CEV下的截尾期望值，完成最終的數據擬真還原；

步驟6對更新后的樣本檢測值進行分組，并設計和計算各組檢測統計量；所述的“分組”是指將未經排序的右截尾樣本數據每n個為一組，分別計算每小組的檢驗統計量T_j＝∑_i∈DX_i+mC/n,j＝1,2,...,N/n，得到統計量矩陣TS＝[T₁,T₂,...,T_N/n]^T；

步驟7依據給定的期望誤報警率確定所構建控制圖的控制限；

步驟8確定截尾型質量特性控制圖的控制界限屬性；

步驟9過程穩定情況下的基于最優反應距離的控制圖的性能比較分析；

步驟10過程異常情況下的基于平均運行鏈長的控制圖的性能比較分析；所述“平均運行鏈長”是指過程失控狀態下的平均運行鏈長；

步驟11錄入擬真還原后的樣本檢測值，完成控制圖的構建，并觀察有無異常點，否則返回步驟1重新執行至過程判定為穩受控。

2.根據權利要求1所述的一種基于收斂CEV的威布爾型截尾特性控制圖的制作方法，其特征在于：在步驟1中所述的“收集過程中右截尾質量檢測數據”，是指收集過程右截尾質量檢測歷史數據，它應當采集20-70組右截尾數據，樣本數量太少，不利于評估過程是否失控，樣本數量過多，則會增加采樣成本。

3.根據權利要求1所述的一種基于收斂CEV的威布爾型截尾特性控制圖的制作方法，其特征在于：在步驟2中所述的“右截尾質量特性的密度分布函數及考慮截尾因素的對數極大似然函數”，分別為即和logL(θ)＝(N-r)S(C；θ)+∑_i∈Df(x_i；θ)，θ代表一個或多個質量特性分布參數，x_i是檢測得到的質量特性值，C是質量特性的截尾水平值，f是失效率函數，S是生存函數，r是非截尾數據的個數，D是非截尾數據的集合。

4.根據權利要求1所述的一種基于收斂CEV的威布爾型截尾特性控制圖的制作方法，其特征在于：在步驟4中所述的“擬真還原初始質量檢測數據并確定截尾過程分布參數與截尾期望值的函數關系”，該“擬真還原”是指右截尾數據由截尾期望值代替，非截尾數據保持原值不變，如此實現樣本信息的還原與更新，確定的截尾過程分布參數與截尾期望值的函數關系為

5.根據權利要求1所述的一種基于收斂CEV的威布爾型截尾特性控制圖的制作方法，其特征在于：在步驟5所述的“收斂CEV下的截尾期望值”為并基于它完成最終的樣本數據還原和更新。