[發(fā)明專利]一種防兩塊磁盤損壞的RAID方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410399100.6 | 申請日: | 2014-08-14 |
| 公開(公告)號: | CN104156276B | 公開(公告)日: | 2017-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉黃志 | 申請(專利權(quán))人: | 浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
| 代理公司: | 濟南信達專利事務(wù)所有限公司37100 | 代理人: | 姜明 |
| 地址: | 250101 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 防兩塊 磁盤 損壞 raid 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及RAID重建技術(shù),具體地說是一種防兩塊磁盤損壞的RAID方法。
背景技術(shù)
海量存儲系統(tǒng)的建設(shè)是目前計算機系統(tǒng)最熱門和發(fā)展最快的領(lǐng)域,存儲系統(tǒng)的主要部分是在線存儲系統(tǒng)。RAID(磁盤陣列)對于提升存儲系統(tǒng)的效率、數(shù)據(jù)的高可靠性、防止數(shù)據(jù)破壞和業(yè)務(wù)停頓具有重大意義。
RAID技術(shù)伴隨著人們的使用過程,經(jīng)歷了一系列的變遷與發(fā)展,逐步形成了RAID 0,RAID 1,RAID 2,RAID3,RAID 4,RAID 5等RAID級別。這些級別是由RAB(RAID Advisory Borad)確定的,此外還有復(fù)合的RAID級別如RAID 0+1,RAID 1+0,RAID 30,RAID 50等,不同的廠商在各自產(chǎn)品中使用了經(jīng)過優(yōu)化的專門技術(shù),如RAID-S,AutoRAID,RAID 6,RAID 7等。
目前實際應(yīng)用中的RAID技術(shù)都只能防止單塊磁盤的損壞,實際生產(chǎn)中已經(jīng)出現(xiàn)了很多由于雙盤損壞造成業(yè)務(wù)長時間停頓的事故。在名目繁多的RAID級別之下,它們都不能在保證高效率數(shù)據(jù)訪問的前提下,有效地防止兩塊磁盤同時損壞造成的巨大的數(shù)據(jù)丟失,一旦數(shù)據(jù)丟失,只能依賴?yán)鋫浞菁夹g(shù)進行長時間的數(shù)據(jù)恢復(fù),造成整體的系統(tǒng)可靠性降低。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,本發(fā)明提出一種防兩塊磁盤損壞的RAID方法。
本發(fā)明所述一種防兩塊磁盤損壞的RAID方法,解決上述技術(shù)問題采用的技術(shù)方案如下:所述防兩塊磁盤損壞的RAID方法包括:構(gòu)建新校驗盤的校驗組的步驟,以及對兩個損壞磁盤進行磁盤恢復(fù)的步驟;所述構(gòu)建新校驗盤的校驗組的步驟包括:按照標(biāo)號把原有RAID中數(shù)據(jù)進行分組,舍棄某個組將其他組構(gòu)成新校驗盤的校驗組的過程;所述對兩個損壞磁盤進行磁盤恢復(fù)的步驟包括:針對不同的兩個損壞磁盤,進行磁盤自行糾錯修復(fù)。
本發(fā)明所述防兩塊磁盤損壞的RAID方法,通過新校驗盤,對角線奇偶校驗和水平奇偶校驗相結(jié)合的校驗方法,當(dāng)RAID組中兩塊磁盤同時損壞時,首先用新的校驗運算恢復(fù)部分?jǐn)?shù)據(jù),再用原來的校驗運算恢復(fù)另一部分?jǐn)?shù)據(jù),并自適應(yīng)檢查數(shù)據(jù),進行校驗糾錯,以恢復(fù)損壞磁盤的數(shù)據(jù),可以有效提高磁盤陣列的可靠性。
進一步,使用對角線奇偶校驗和水平奇偶校驗相結(jié)合的校驗方法,進行恢復(fù)數(shù)據(jù)時,交替使用對角線奇偶校驗和水平奇偶校驗。
進一步,所述防兩塊磁盤損壞的RAID方法提出了一種新型RAID結(jié)構(gòu),所述新型RAID結(jié)構(gòu)包括原有RAID和新校驗盤。
進一步,所述新型RAID結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)盤和校驗盤的構(gòu)成是N+1,則所述新校驗盤必須構(gòu)成(N+1+1)×N的矩陣組。
進一步,若兩塊損壞磁盤是新校驗盤和一塊原有RAID中的磁盤,則不考慮新校驗盤,原有RAID中的磁盤通過原有的校驗運算進行數(shù)據(jù)恢復(fù)。
進一步,所述新型RAID結(jié)構(gòu)包括含有磁盤A、B、C、D、E的原有RAID和新校驗盤F,若兩塊損壞磁盤是原有RAID中的磁盤C和磁盤D,則磁盤D中標(biāo)號1的數(shù)據(jù)通過新校驗運算恢復(fù),磁盤C中標(biāo)號0的數(shù)據(jù)通過原來的校驗運算恢復(fù)。
進一步,所述新型RAID結(jié)構(gòu)包括含有磁盤A、B、C、D、E的原有RAID和新校驗盤F,若兩塊損壞磁盤是原有RAID中的磁盤A和磁盤B,則磁盤B中標(biāo)號4的數(shù)據(jù)通過新校驗運算恢復(fù),磁盤A中標(biāo)號3的數(shù)據(jù)通過原來的校驗運算恢復(fù)。
本發(fā)明所述一種防兩塊磁盤損壞的RAID方法與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果:所述防兩塊磁盤損壞的RAID方法改進了新型的RAID結(jié)構(gòu),采用了新校驗方法,構(gòu)建新校驗盤,通過對角線奇偶校驗和水平奇偶校驗相結(jié)合的校驗方法,防止了兩塊磁盤損壞導(dǎo)致的數(shù)據(jù)破壞和業(yè)務(wù)停頓等問題,有效地提高了RAID的校驗?zāi)芰Γ瑯O大地提高磁盤陣列的可靠性和數(shù)據(jù)保護能力,并提升了海量存儲系統(tǒng)的可靠性。
附圖說明
附圖1為所述防兩塊磁盤損壞的RAID方法的示意圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚明白,下文中將結(jié)合附圖和實施例,對本發(fā)明的一種防兩塊磁盤損壞的RAID方法進行詳細說明。
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