[發明專利]一種圖像壞點的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201410395833.2
• 申請日: 2014-08-12
• 公開（公告）號: CN105338342B
• 公開（公告）日: 2017-07-18
• 發明（設計）人: 譚世恒
• 申請（專利權）人: 炬芯（珠海）科技有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;H04N5/367
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司11291
• 代理人: 黃志華

1.一種圖像壞點的檢測方法，其特征在于，該方法包括：

針對檢測圖像，將待檢測像素作為檢測窗口的中心，獲取檢測窗口內所述待檢測像素以及與所述待檢測像素顏色相同的同色像素的像素值，并分別確定所述待檢測像素與檢測窗口內每一個同色像素的像素差值；統計所述像素差值大于第一像素差值閾值的同色像素的數量，作為第一數量值；

確定所述檢測窗口內所述待檢測像素以及與所述待檢測像素在同一行、且位于所述待檢測像素右側的同色像素的像素值均不在設定的像素值閾值范圍內，且所述確定的待檢測像素與所述待檢測像素右側的同色像素的像素差值的絕對值均小于設定的絕對值閾值，則確定所述待檢測像素為所述檢測圖像的疑似行壞點；

確定所述檢測窗口內所述待檢測像素以及與所述待檢測像素在同一列、且位于所述待檢測像素下方的同色像素的像素值均不在設定的像素值閾值范圍內，且所述確定的待檢測像素與所述待檢測像素下方的同色像素的像素值的差值的絕對值小于設定的絕對值閾值，則確定所述待檢測像素為所述檢測圖像的疑似列壞點；

確定所述第一數量值大于設定的第一數量閾值，且確定所述待檢測像素為所述檢測圖像的疑似行壞點，則確定所述待檢測像素為所述檢測圖像的行壞點；確定所述第一數量值大于設定的第一數量閾值，且確定所述待檢測像素為所述檢測圖像的疑似列壞點，則確定所述待檢測像素為所述檢測圖像的列壞點。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，該方法還包括：

確定所述第一數量值不大于設定的第一數量閾值；和/或，確定所述待檢測像素不是疑似行壞點，也不是疑似列壞點；

觸發對所述待檢測像素進行常規壞點檢測。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對待檢測像素進行常規壞點檢測，具體包括：

統計所述待檢測像素與檢測窗口內每一個同色像素的像素差值大于第二像素差值閾值的同色像素的數量，作為第二數量值，若所述第二數量值大于設定的第二數量閾值，則確定所述待檢測像素為常規壞點，否則確定所述待檢測像素為正常像素，觸發檢測窗口移動。

4.如權利要求1～3任一所述的方法，其特征在于，確定所述待檢測像素為行壞點之后，將所述檢測窗口內所述待檢測像素的縱向方向梯度值、左對角線方向梯度值、右對角線方向梯度值進行比較，確定梯度值最小的方向為參考方向；將確定的參考方向上與所述待檢測像素相距2p個像素單位的一對同色像素的像素值取平均值，將確定的平均值作為待檢測像素校正后的像素值，其中p為正整數；

或，確定所述待檢測像素為列壞點之后，則將所述檢測窗口內所述待檢測像素的橫向方向梯度值、左對角線方向梯度值、右對角線方向梯度值進行比較，確定梯度值最小的方向為參考方向；將確定的參考方向上與所述待檢測像素相距2p個像素單位的一對同色像素的像素值取平均值，將確定的平均值作為待檢測像素校正后的像素值，其中p為正整數；

或，確定所述待檢測像素是行壞點，也是列壞點之后，則將所述檢測窗口內所述待檢測像素的左對角線方向梯度值、右對角線方向梯度值進行比較，確定梯度值最小的方向為參考方向；將確定的參考方向上與所述待檢測像素相距2p個像素單位的一對同色像素的像素值取平均值，將確定的平均值作為待檢測像素校正后的像素值，其中p為正整數；

或，確定所述待檢測像素不是行壞點，也不是列壞點之后，則將所述檢測窗口內所述待檢測像素的橫向方向梯度值、縱向方向梯度值、左對角線方向梯度值、右對角線方向梯度值進行比較，確定梯度值最小的方向為參考方向；將確定的參考方向上與所述待檢測像素相距2p個像素單位的一對同色像素的像素值取平均值，將確定的平均值作為待檢測像素校正后的像素值，其中p為正整數。