[發明專利]適用于太赫茲頻段的四端口器件測試結構

有效

• 申請號: 201410392045.8
• 申請日: 2014-08-11
• 公開（公告）號: CN104183896B
• 公開（公告）日: 2016-11-09
• 發明（設計）人: 胡江;周揚帆;劉雙;劉伊民;張勇;鄭中萬
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: H01P5/16
• 分類號: H01P5/16
• 代理公司: 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227
• 代理人: 周永宏

1.一種適用于太赫茲頻段的四端口器件測試裝置，其特征在于：包括太赫茲分支波導功分器，所述太赫茲分支波導功分器的波導腔(3)包括主波導腔(4)和副波導腔(5)，所述主波導腔(4)和副波導腔(5)相互平行且都呈長方體結構，所述主波導腔(4)和副波導腔(5)之間還具有呈長方體結構的N個分支波導腔；所述主波導腔(4)一端為波導輸入段(6)，另一端為波導直通輸出段(7)，所述副波導腔(5)一端為波導隔離段(9)，另一端為波導耦合輸出段(8)，所述主波導腔(4)的波導輸入段(6)與副波導腔(5)的波導隔離段(9)位于N個分支波導腔的同一側，主波導腔(4)的波導直通輸出段(7)與副波導腔(5)的波導耦合輸出段(8)位于N個分支波導腔的另一側；所述波導腔(3)具體包括直耦合測試結構波導腔(3.1)、平行耦合測試結構波導腔(3.2)和隔離度測試結構波導腔(3.3)三種測試結構波導腔；所述波導腔(3)采用在特定端口設置垂直拐角的結構，測試端口位于同一水平對齊線，非測試端口拐向側面塞入吸波材料，所述吸波材料采用尖劈結構，尖頭插入非測試端波導口內。

2.如權利要求1所述的適用于太赫茲頻段的四端口器件測試裝置，其特征在于：所述直耦合測試結構波導腔(3.1)的副波導腔(5)兩端分別具有垂直拐角且沿背向主波導腔(4)一側延伸；第一分支波導腔(10)一端與主波導腔(4)的波導輸入段(6)相連接，另一端與副波導腔(5)垂直拐角的波導隔離段(9)相連接，第N分支波導腔一端與主波導腔(4)的波導直通輸出段(7)相連接，另一端與副波導腔(5)垂直拐角的波導耦合輸出段(8)相連接。

3.如權利要求1所述的適用于太赫茲頻段的四端口器件測試裝置，其特征在于：所述平行耦合測試結構波導腔(3.2)的主波導腔(4)的波導直通輸出段(7)具有垂直拐角且沿背向副波導腔(5)一側延伸；所述副波導腔(5)的波導隔離段(9)具有垂直拐角且背向主波導腔(4)一側延伸，所述波導耦合輸出段(8)經兩次垂直拐角且沿與波導輸入段(6)同一水平對齊線方向延伸；第一分支波導腔(10)一端與主波導腔(4)的波導輸入段(6)相連接，另一端與副波導腔(5)垂直拐角的波導隔離段(9)相連接，第N分支波導腔一端與主波導腔(4)垂直拐角的波導直通輸出段(7)相連接，另一端與副波導腔(5)垂直拐角的波導耦合輸出段(8)相連接。

4.如權利要求1所述的適用于太赫茲頻段的四端口器件測試裝置，其特征在于：所述隔離度測試結構波導腔(3.3)的主波導腔(4)兩端分別具有垂直拐角且沿背向副波導腔(5)一側延伸；所述副波導腔(5)兩端分別具有垂直拐角且沿背向主波導腔(4)一側延伸；所述波導直通輸出段(7)與波導耦合輸出段(8)位于同一水平對齊線，所述波導輸入段(6)與波導隔離段(9)位于同一水平對齊線；第一分支波導腔(10)一端與主波導腔(4)垂直拐角的波導輸入段(6)相連接，另一端與副波導腔(5)垂直拐角的波導隔離段(9)相連接，第N分支波導腔一端與主波導腔(4)垂直拐角的波導直通輸出段(7)相連接，另一端與副波導腔(5)垂直拐角的波導耦合輸出段(8)相連接。