[發明專利]甚短基線光學測量目標定位方法

無效

• 申請號: 201410389775.2
• 申請日: 2014-08-11
• 公開（公告）號: CN104199024A
• 公開（公告）日: 2014-12-10
• 發明（設計）人: 柴敏;宋衛紅;王敏;余慧;王家松
• 申請（專利權）人: 中國西安衛星測控中心
• 主分類號: G01S13/86
• 分類號: G01S13/86
• 代理公司: 西北工業大學專利中心 61204
• 代理人: 呂湘連

所屬領域?

本發明專利屬于航天測量與控制領域，涉及一種基于全微分算法的甚短基線光學測量目標定位方法。?

背景技術

目前，我國航天靶場試驗中的光學跟蹤測量設備，已逐漸利用多系統跟蹤模式，這種多傳感器跟蹤可增強系統的可靠性和魯棒性，為獲得目標的高精度可靠性信息提供了有力的技術支持。伴隨這種新測量體制的出現，相應地為我們的外彈道數據處理方法提出了新的挑戰。為了適應后續測控網的發展，我們必須對這種測量體制的測元數據融合技術開展研究，根據多傳感器的特性，結合外部環境條件，確定相應的算法和數學模型，完成目標狀態的預測，尋找最佳的匹配、融合算法，實現高精度的外彈道數據處理目的。本發明依據全微分公式，根據測站站址差計算出測量元素，建立基于全微分方程的雷達-光電經緯儀聯合定位模型，將經緯儀的高精度測角信息和雷達的高精度測距信息進行數據融合，確定飛行目標的空間位置。?

發明內容

在實驗中，采用某光學測量設備及附近雷達站設備進行目標跟蹤。利用這兩臺跟蹤設備測量數據來完成運載火箭定位及精度結果的確定。?

本發明提出的甚短基線光學測量目標定位方法，具體過程包括如下步驟：?

步驟一：目標定位計算?

設經緯儀測得的方位角和俯仰角分別為A_1i、E_1i，雷達測距為R_2i，目標在發射坐標系中的標準位置坐標為x_i,y_i,z_i，x₀₁,y₀₁,z₀₁為第經緯儀站址坐標，x₀₂,y₀₂,z₀₂為雷達站址坐標，試求在目標在發射坐標系中的聯合定位位置參數。?

由?

tgA1i=(zi-z01)(xi-x01),R1i=(xi-x01)2+(yi1-y01)2+(zi-z01)2]]>

進行微分得?