[發(fā)明專利]測試系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410387906.3
• 申請日: 2014-08-08
• 公開（公告）號: CN105281825B
• 公開（公告）日: 2017-12-19
• 發(fā)明（設計）人: 邱國恩
• 申請（專利權）人: 智邦科技股份有限公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;H04B10/69
• 代理公司: 隆天知識產(chǎn)權代理有限公司72003
• 代理人: 張浴月

1.一種測試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

一終端裝置，用以提供一光信號；

一光衰減器，用以根據(jù)上述光信號，產(chǎn)生一衰減光信號；

一待測裝置，用以產(chǎn)生對應上述衰減光信號的一模擬轉數(shù)字值；以及

一測試管理器，用以接收上述模擬轉數(shù)字值，并根據(jù)上述模擬轉數(shù)字值以及上述衰減光信號，產(chǎn)生一組校準值，且將上述校準值回傳上述待測裝置，以檢測上述待測裝置，

其中上述待測裝置取得上述校準值后，根據(jù)上述校準值和重新產(chǎn)生的上述模擬轉數(shù)字值，產(chǎn)生一估測值，其中重新產(chǎn)生的上述模擬轉數(shù)字值是由上述光衰減器所重新產(chǎn)生的上述衰減光信號所轉換而來。

2.如權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，其中上述測試管理器還用以控制上述光衰減器所提供的上述光信號。

3.如權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，其中上述測試管理器還用以傳送至少一衰減參數(shù)至上述光衰減器，以提供上述光衰減器產(chǎn)生上述衰減光信號。

4.如權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，其中上述測試管理器還用以將上述光衰減器輸出的上述衰減光信號的一光功率強度預先進行一反對數(shù)運算。

5.如權利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，其中上述測試管理器會根據(jù)上述估測值和重新產(chǎn)生的上述衰減光信號來檢測上述待測裝置。

6.一種測試方法，其特征在于，包括：

提供一光信號；

根據(jù)上述光信號，產(chǎn)生一衰減光信號；

通過一待測裝置產(chǎn)生對應上述衰減光信號的模擬轉數(shù)字值；以及

根據(jù)上述模擬轉數(shù)字值以及上述衰減光信號，產(chǎn)生一組校準值；

回傳上述組校準值至上述待測裝置；

通過一測試管理器檢測取得上述校準值的上述待測裝置；以及

通過上述待測裝置取得上述校準值后，再通過上述待測裝置根據(jù)上述校準值和重新產(chǎn)生的上述模擬轉數(shù)字(AD)值，產(chǎn)生一估測值，其中重新產(chǎn)生的上述模擬轉數(shù)字(AD)值是通過一光衰減器所重新產(chǎn)生的上述衰減光信號所轉換而來。

7.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，還包括：

通過上述測試管理器控制所提供的上述光信號。

8.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，還包括：

通過上述測試管理器產(chǎn)生一衰減參數(shù)，以產(chǎn)生上述衰減光信號。

9.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，還包括：

通過上述測試管理器將上述衰減后的光信號的一光功率強度預先進行一反對數(shù)運算。

10.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，還包括：

通過上述測試管理器根據(jù)上述估測值以及上述重新產(chǎn)生的衰減光信號來檢測上述待測裝置。