[發(fā)明專利]磁頭加載力測(cè)試設(shè)備有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410385326.0 | 申請(qǐng)日: | 2014-08-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN105336345B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杜浩;徐增會(huì);王沛 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳長(zhǎng)城開(kāi)發(fā)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11B5/455 | 分類號(hào): | G11B5/455 |
| 代理公司: | 深圳市隆天聯(lián)鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44232 | 代理人: | 劉抗美;闕龍燕 |
| 地址: | 518000 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁頭 加載 測(cè)試 設(shè)備 | ||
1.一種磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)量磁頭加載力,其特征在于,包括磁頭定位機(jī)構(gòu)、分隔機(jī)構(gòu)和稱重機(jī)構(gòu),所述稱重機(jī)構(gòu)包括多個(gè)盤片稱重單元,各盤片稱重單元均包括一盤片和一用于測(cè)量搭載在所述盤片上的磁頭加載力的電子稱,各盤片稱重單元的盤片依次疊加形成一梳齒狀;
所述分隔機(jī)構(gòu)包括兩組分隔單元,每一組分隔單元均包括多個(gè)分隔針,且同一組內(nèi)的分隔針成列排布,不同組之間的分隔針成行排布,所述兩組分隔單元分別與一氣缸相連,在氣缸的驅(qū)動(dòng)下,其中一組分隔單元向上運(yùn)動(dòng),另一組分隔單元向下運(yùn)動(dòng),以便一次性完成所有頭向朝上或朝下的HGA的加載力測(cè)試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述盤片稱重單元還包括一固定座和立柱,所述盤片通過(guò)所述立柱固定在所述固定座上,所述固定座安裝在所述電子稱的傳感器上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,各盤片均包括一安裝在所述立柱上的盤頭和由所述盤頭的一側(cè)向水平延伸而成的呈細(xì)長(zhǎng)狀的盤齒,各盤片的盤齒依次疊加形成所述的梳齒狀。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述磁頭定位機(jī)構(gòu)包括定位組件、旋壓組件和夾緊組件,所述定位組件將磁頭定位在磁頭加載力測(cè)試設(shè)備的底座組件上,所述旋壓組件在豎直方向上定位所述磁頭,所述夾緊組件在水平方向上定位所述磁頭。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述定位組件包括一圓柱臺(tái)和安裝在所述圓柱臺(tái)上的定位軸,所述定位軸與所述磁頭的軸承定位孔相配合以將所述磁頭在所述圓柱臺(tái)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述旋壓組件包括一驅(qū)動(dòng)裝置和一由所述驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)上下運(yùn)動(dòng)的壓頭,所述壓頭從所述定位組件的上方對(duì)所述磁頭進(jìn)行壓緊。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述夾緊組件包括一夾緊固定座、安裝在所述夾緊固定座上的氣缸、在所述氣缸驅(qū)動(dòng)下做水平移動(dòng)的夾頭座和安裝在所述夾頭座上的夾頭,所述夾頭與所述底座組件上的定位銷配合以在水平方向上定位所述磁頭。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁頭加載力測(cè)試設(shè)備,其特征在于,所述磁頭加載力測(cè)試設(shè)備還包括一退梳齒組件、一上梳齒組件和一托梳齒組件,所述退梳齒組件和所述上梳齒組件相互配合以將套裝在磁頭上用于保護(hù)磁頭的梳齒從磁頭上退開(kāi)或裝上,所述托梳齒組件用于托舉被退開(kāi)的梳齒。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳長(zhǎng)城開(kāi)發(fā)科技股份有限公司,未經(jīng)深圳長(zhǎng)城開(kāi)發(fā)科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201410385326.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G11B 基于記錄載體和換能器之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)而實(shí)現(xiàn)的信息存儲(chǔ)
G11B5-00 借助于記錄載體的激磁或退磁進(jìn)行記錄的;用磁性方法進(jìn)行重現(xiàn)的;為此所用的記錄載體
G11B5-004 .磁鼓信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-008 .磁帶或磁線信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-012 .磁盤信息的記錄、重現(xiàn)或抹除
G11B5-02 .記錄、重現(xiàn)或抹除的方法及其讀、寫或抹除的電路
G11B5-10 .磁頭的外殼或屏蔽罩的結(jié)構(gòu)或制造
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)





