[發明專利]數據校正方法和系統在審
| 申請號: | 201410384374.8 | 申請日: | 2014-08-06 |
| 公開(公告)號: | CN104133731A | 公開(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發明(設計)人: | 孫浩 | 申請(專利權)人: | 曙光信息產業(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/00 | 分類號: | G06F11/00 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孫征 |
| 地址: | 100193 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 數據 校正 方法 系統 | ||
1.一種數據校正方法,其特征在于,應用于Nand?Flash存儲器中,所述方法包括:
依次讀取第一鏡像中的數據;
對所述數據進行校驗,根據校驗結果判斷所述數據是否發生位交換;
在判斷結果為是的情況下,讀取第二鏡像中的數據,并利用讀取的所述數據對所述第一鏡像進行同步,其中,所述第二鏡像為所述第一鏡像的備份鏡像。
2.根據權利要求1所述的數據校正方法,其特征在于,所述第二鏡像的數量為一個或多個,并且與所述第一鏡像位于NAND的同一個分區中,且在所述同一個分區中所述第一鏡像與所述第二鏡像共用一個分區頭。
3.根據權利要求1所述的數據校正方法,其特征在于,依次讀取所述第一鏡像中的數據,包括:
讀取分區頭信息,并指向所述第一鏡像的起始地址,其中所述分區頭信息包括以下至少之一:鏡像的起始地址、鏡像的大小和鏡像的md5值。
4.根據權利要求1所述的數據校正方法,其特征在于,當所述數據發生位交換的情況下,將經過校驗確定的發生位交換的比特數與校正算法所能校正的最大比特數相比較,在確定的發生位交換的比特數大于校正算法所能校正的所述最大比特數的情況下,從所述第二鏡像中讀取數據,并利用讀取的數據對所述第一鏡像進行同步。
5.根據權利要求1所述的數據校正方法,其特征在于,從所述第二鏡像中讀取的所述數據與所述第一鏡像中發生位交換的數據具有相同的偏移。
6.根據權利要求1所述的數據校正方法,其特征在于,所述數據校正方法進一步包括:
當所述第一鏡像的數據全部校正完成后,將所述第二鏡像全部讀取,并計算重新讀取后的所述第二鏡像的md5值,當重讀后的所述第二鏡像的所述md5值與分區頭中的md5值不一致時,利用校正完成后的第一鏡像的數據來同步所述第二鏡像。
7.一種數據校正系統,其特征在于,應用于Nand?Flash存儲器中,所述數據校正系統包括:
讀取模塊,用于依次讀取第一鏡像中的數據,并在發生位交換的情況下讀取第二鏡像中的數據;
校驗模塊,用于對所述第一鏡像中的數據進行校驗,根據校驗結果判斷所述數據是否發生位交換;
同步模塊,用于在發生位交換的情況下利用讀取的所述第二鏡像中的數據對所述第一鏡像進行同步;
其中,所述第二鏡像為所述第一鏡像的備份鏡像。
8.根據權利要求7所述的數據校正系統,其特征在于,所述讀取模塊進一步用于:讀取分區頭信息,并指向所述第一鏡像的起始地址,并且當所述第一鏡像的數據全部校正完成后,將所述第二鏡像全部讀取,并計算重新讀取后的所述第二鏡像的md5值;
其中所述分區頭信息包括以下至少之一:鏡像的起始地址、鏡像的大小和鏡像的md5值。
9.根據權利要求7所述的數據校正系統,其特征在于,所述校驗模塊進一步用于當所述數據發生位交換的情況下,確定所述第一鏡像中發生位交換的比特數,并將確定的發生位交換的比特數與校正算法所能校正的最大比特數相比較,并且,所述同步模塊用于在比較結果為確定的發生位交換的比特數大于校正算法所能校正的所述最大比特數的情況下,從所述第二鏡像中讀取數據,并利用讀取的數據對所述第一鏡像進行同步。
10.根據權利要求7所述的數據校正系統,其特征在于,所述同步模塊進一步用于:當重讀后的所述第二鏡像的所述md5值與分區頭中的md5值不一致時,利用校正完成后的第一鏡像的數據來同步所述第二鏡像。
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