[發(fā)明專利]一種安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410383951.1
• 申請(qǐng)日: 2014-08-06
• 公開（公告）號(hào): CN105372619B
• 公開（公告）日: 2019-01-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 白志華;王連勝;黎金旺;王慧;董揚(yáng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 國家電網(wǎng)公司;北京南瑞智芯微電子科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R35/04
• 分類號(hào): G01R35/04
• 代理公司: 北京中譽(yù)威圣知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11279
• 代理人: 郭振興;王正茂

本發(fā)明公開了一種安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備，包括：主控模塊、開關(guān)模塊、芯片插卡槽，所述主控模塊通過USB接口與上位機(jī)進(jìn)行通信，接收所述上位機(jī)的掉電指令，并對(duì)所述掉電指令進(jìn)行解析得到掉電控制信號(hào)；所述主控模塊通過所述開關(guān)模塊將所述掉電控制信號(hào)傳輸?shù)剿鲂酒蹇ú鄣拇郎y(cè)芯片，控制所述待測(cè)芯片進(jìn)行掉電。本發(fā)明的安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備，通過單片機(jī)控制雙向轉(zhuǎn)換芯片上下電，延時(shí)時(shí)間短，時(shí)間精確；既支持7816接口芯片測(cè)試，也支持SPI接口芯片測(cè)試，應(yīng)用范圍廣；通過APDU命令控制掉電，掉電起始點(diǎn)設(shè)置方式多，使用靈活，測(cè)試更全面。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及智能芯片的掉電測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體地，涉及一種安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備。

背景技術(shù)

掉電測(cè)試是智能電表安全芯片一項(xiàng)重要測(cè)試，其主要是考核安全芯片在通信過程中出現(xiàn)突然掉電時(shí)，內(nèi)部數(shù)據(jù)特別是EEPROM中數(shù)據(jù)是否會(huì)被改寫。掉電測(cè)試的主要工作流程是：安全芯片進(jìn)行正確上電，向安全芯片發(fā)送測(cè)試APDU命令，在發(fā)送完測(cè)試APDU后，在某個(gè)不確定的時(shí)間進(jìn)行突然掉電，掉電結(jié)束后，重新對(duì)芯片進(jìn)行上電，發(fā)送校驗(yàn)APDU命令對(duì)芯片進(jìn)行驗(yàn)證，分析芯片內(nèi)部數(shù)據(jù)是否被改寫。

在現(xiàn)有技術(shù)中，主要針對(duì)7816接口芯片進(jìn)行掉電測(cè)試，支持兩種掉電起始點(diǎn)選擇，掉電時(shí)間間隔最小為1ms，通過測(cè)試軟件完成相應(yīng)測(cè)試，如果測(cè)試線性定長文件的掉電特性，需開發(fā)相應(yīng)的校驗(yàn)?zāi)_本和更新腳本。

通過對(duì)以上現(xiàn)有技術(shù)的分析，可以發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有的掉電測(cè)試設(shè)備存在以下問題：

1、只支持單一的7816接口芯片，無法對(duì)SPI接口芯片進(jìn)行測(cè)試；

2、只支持兩種掉電起始點(diǎn)選擇；

3、掉電時(shí)間間隔為1ms，時(shí)間間隔較長，間隔縮短后影響設(shè)備壽命。本專利解決了以上技術(shù)缺點(diǎn)，使用更方便，功能更全面。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的無法對(duì)SPI接口安全芯片進(jìn)行有效掉電測(cè)試的問題，本發(fā)明提出了一種安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備。

本發(fā)明的安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備，包括：主控模塊、開關(guān)模塊、芯片插卡槽，所述主控模塊通過USB接口與上位機(jī)進(jìn)行通信，接收所述上位機(jī)的掉電指令，并對(duì)所述掉電指令進(jìn)行解析得到掉電控制信號(hào)；

所述主控模塊通過所述開關(guān)模塊將所述掉電控制信號(hào)傳輸?shù)剿鲂酒蹇ú鄣拇郎y(cè)芯片，控制所述待測(cè)芯片進(jìn)行掉電。

本發(fā)明的安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備，通過單片機(jī)控制雙向轉(zhuǎn)換芯片上下電，延時(shí)時(shí)間短，時(shí)間精確；既支持7816接口芯片測(cè)試，也支持SPI接口芯片測(cè)試，應(yīng)用范圍廣；通過APDU命令控制掉電，掉電起始點(diǎn)設(shè)置方式多，使用靈活，測(cè)試更全面。

本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)將在隨后的說明書中闡述，并且，部分地從說明書中變得顯而易見，或者通過實(shí)施本發(fā)明而了解。本發(fā)明的目的和其他優(yōu)點(diǎn)可通過在所寫的說明書、權(quán)利要求書、以及附圖中所特別指出的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)和獲得。

下面通過附圖和實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

附圖說明

附圖用來提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本發(fā)明的實(shí)施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的限制。在附圖中：

圖1為本發(fā)明的安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)原理圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例的安全芯片掉電測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)原理圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例中掉電測(cè)試時(shí)不同的掉電起始點(diǎn)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)描述，但應(yīng)當(dāng)理解本發(fā)明的保護(hù)范圍并不受具體實(shí)施方式的限制。