[發明專利]一種電氣設備封閉箱體內部溫升的監測方法及裝置

有效

• 申請號: 201410381823.3
• 申請日: 2014-08-05
• 公開（公告）號: CN105319458B
• 公開（公告）日: 2020-02-11
• 發明（設計）人: 余礫;陳炯;吳芳基;李祖輝;W·D·弗里斯
• 申請（專利權）人: 伊頓電力設備有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01K13/00;G01K1/02
• 代理公司: 11280 北京泛華偉業知識產權代理有限公司
• 代理人: 王勇;李科

1.一種電氣設備封閉箱體內部溫升的監測方法，包括下列步驟：

1)根據在電氣設備封閉箱體內部實測的溫度-時間數據對，基于指數溫升模型進行擬合，得到模型參數τ_w、τ₀和T_i，其中，n為1或2，τ為溫度變量，τ₀表示初始溫度，τ₀+τ_w為最終穩定溫度，t為時間變量，T表示時間常數；

2)根據步驟1)所得的指數溫升模型，得到電氣設備封閉箱體內部的相應位置處的任意時間點的溫度，

其中，所述步驟1)中，基于指數溫升模型的擬合采用最小二乘均值法，

其中，在所述指數溫升模型中n為1的情況下，所述指數溫升模型表示為所述步驟1)包括下列子步驟：

11)對指數溫升模型中的進行泰勒多項式展開并舍棄高次項，得到的有限項數的泰勒多項式；

12)將所述的有限項數的泰勒多項式代入所述指數溫升模型，得到溫度變量τ的有限項數的泰勒多項式；

13)將多組所述實測的溫度-時間數據對代入所述溫度變量τ的有限項數的泰勒多項式，求解多元方程，得到模型參數τ_w、τ₀和T；

14)基于步驟13)所得的模型參數τ_w、τ₀和T，計算

殘差

其中τ_i、t_i表示第i組實測的溫度-時間數據對，N表示實測的溫度-時間數據對的數目；

15)當殘差res₂超過預設的閾值時，對模型參數τ_w和T進行校正。

2.根據權利要求1所述的電氣設備封閉箱體內部溫升的監測方法，其特征在于，所述步驟15)中，根據實測溫度值和指數溫升模型所計算得到的溫度值的大小關系，校正模型參數τ_w和T。

3.根據權利要求2所述的電氣設備封閉箱體內部溫升的監測方法，其特征在于，所述步驟15)中，校正模型參數τ_w和T的方法包括下列子步驟：

151)當指數溫升模型所計算得到的溫度值大于實測溫度值時，更新更新

152)當指數溫升模型所計算得到的溫度值小于實測溫度值時，更新更新

步驟151)和152)中，

153)在更新τ_w和T后，回到步驟14)進行處理，直至殘差res₂不超過預設的閾值。

4.根據權利要求1所述的電氣設備封閉箱體內部溫升的監測方法，其特征在于，所述步驟2)中，先判斷當前電流變化率是否小于預設的門限值，并且在當前電流變化率小于預設的門限值時根據當前所得的指數溫升模型，得到電氣設備封閉箱體內部的相應位置處的任意時間點的溫度。

5.根據權利要求4所述的電氣設備封閉箱體內部溫升的監測方法，其特征在于，所述步驟2)中，所述預設的門限值為100A/S。