[發明專利]母襯底、其陣列測試方法及顯示器襯底

有效

• 申請號: 201410379417.3
• 申請日: 2014-08-04
• 公開（公告）號: CN104464580B
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 金智善;蔡鐘哲;權英根
• 申請（專利權）人: 三星顯示有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 邵亞麗

1.一種母襯底，包括：

通過劃線定義的顯示器襯底單元，該顯示器襯底單元包括多條柵線、驅動柵線的柵電路部分、以及連接至柵電路部分且包括多個柵焊盤的柵焊盤部分；

在圍繞顯示器襯底單元的周圍區域中的柵測試焊盤部分，該柵測試焊盤部分被配置為接收柵測試信號；

柵測試線部分，連接柵測試焊盤部分和柵焊盤部分；以及

開關部分，連接至柵測試線部分并且被配置為控制柵測試線部分的導通和斷開，

其中柵測試焊盤部分包括：

測試控制焊盤，被配置為接收控制開關部分的操作的測試控制信號，以及

多個柵測試焊盤，被配置為接收控制柵電路部分的操作的多個柵測試信號，

其中開關部分包括并行連接柵測試焊盤部分和柵焊盤部分的多個開關，其中一個開關包括并行連接一個柵測試焊盤和一個柵焊盤的多個開關元件，所述多個開關元件響應于測試控制信號而驅動，

其中每個開關元件包括串行相互連接的多個晶體管，所述多個晶體管共同響應于測試控制信號而驅動，以及

其中開關部分在相對于所述劃線的顯示器襯底單元的內部區域中，并且是電浮動的。

2.如權利要求1中所述的母襯底，其中開關部分在鄰近于布置柵焊盤部分的區域的區域中。

3.如權利要求1中所述的母襯底，其中柵測試信號包括驅動該柵電路部分的多個時鐘信號、多個OFF信號和至少一個垂直開始信號。

4.如權利要求1中所述的母襯底，其中該柵電路部分包括多個電路晶體管，每個電路晶體管具有氧化物半導體。

5.如權利要求1中所述的母襯底，其中該柵電路部分包括多個電路晶體管，每個電路晶體管具有非晶硅。

6.一種用于顯示器襯底單元的母襯底的陣列測試方法，該顯示器襯底單元具有多條數據線、多條柵線、驅動柵線的柵電路部分以及連接至柵電路部分的柵焊盤部分，所述陣列測試方法包括：

在顯示器襯底單元的陣列測試過程期間，導通連接包括多個柵焊盤的柵焊盤部分和包括多個柵測試焊盤且接收柵測試信號的柵測試焊盤部分的柵測試線部分；

在陣列測試過程之前和之后斷開該柵測試線部分；

在陣列測試過程期間導通開關部分；以及

在陣列測試過程之前和之后關斷所述開關部分，該開關部分被連接至柵測試線部分，

其中開關部分包括并行連接柵測試焊盤部分和柵焊盤部分的多個開關，其中一個開關包括并行連接一個柵測試焊盤和一個柵焊盤的多個開關元件，

其中每個開關元件包括串行的多個晶體管，所述多個晶體管共同響應于測試控制信號而驅動，以及

其中開關部分在顯示器襯底單元的內部區域中，并且是電浮動的。

7.如權利要求6中所述的陣列測試方法，進一步包括：

在陣列測試過程期間將導通開關部分的測試控制信號施加到測試控制焊盤；以及

在陣列測試過程之前和之后將關斷所述開關部分的測試控制信號施加到測試控制焊盤，所述柵測試焊盤部分包括測試控制焊盤。

8.如權利要求6中所述的陣列測試方法，其中開關部分包括連接柵測試焊盤部分和柵焊盤部分的開關元件，并且所述開關元件包括串行的多個晶體管。

9.如權利要求6中所述的陣列測試方法，進一步包括在陣列測試過程期間將數據測試信號施加到連接至數據線的數據焊盤部分。

10.一種顯示器襯底，包括：

被布置在顯示區域中的多條柵線；

與柵線交叉的多條數據線；

被布置在圍繞顯示區域的周圍區域中并且被配置為驅動柵線的柵電路部分；

連接至柵電路部分并且被配置為包括多個柵焊盤和接收柵驅動信號的柵焊盤部分；以及

被布置為鄰近于柵焊盤部分并且連接至柵焊盤部分的開關部分，

其中開關部分包括并行相互連接的多個開關，其中一個開關包括并行連接一個柵焊盤的多個開關元件，并且每個開關元件包括串行相互連接的多個晶體管，所述多個晶體管共同響應于測試控制信號而驅動，以及

其中開關部分在顯示器襯底的內部區域中，并且是電浮動的。