[發明專利]一種超聲波相控陣檢測的方法和裝置有效
| 申請號: | 201410378413.3 | 申請日: | 2014-08-01 |
| 公開(公告)號: | CN104142368B | 公開(公告)日: | 2017-01-18 |
| 發明(設計)人: | 汪月銀 | 申請(專利權)人: | 深圳市神視檢驗有限公司 |
| 主分類號: | G01N29/04 | 分類號: | G01N29/04;G01N29/44 |
| 代理公司: | 北京品源專利代理有限公司11332 | 代理人: | 鄧猛烈,胡彬 |
| 地址: | 518054 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 超聲波 相控陣 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,包括:
利用超聲波相控陣波束對焊縫或母材作扇形掃查以獲得相控陣扇掃圖,所述相控陣扇掃圖包括多條角度線,每條角度線包括多個掃查回波數據點,每個掃查回波數據點對應一個波束回波能量;
標記對應的波束回波能量大于或等于預設標準波束回波能量閾值的掃查回波數據點;若位于任意一條角度線上相鄰的被標記掃查回波數據點的間距小于等于預設間距閾值,則把該相鄰的被標記掃查回波數據點連成掃查回波數據線;
將分別位于相鄰兩條角度線上的相鄰兩根掃查回波數據線的上端點和下端點按預設法則進行比較,將比較結果符合預設法則的掃查回波數據線歸為一區域缺陷;所述預設法則包括:將第n根掃查回波數據線的上端點的坐標值標記為a、下端點的坐標值標記為b,將第m根掃查回波數據線的上端點的坐標值標記為c、下端點的坐標值標記為d,若|a-預設閾值|≤c≤|a+預設閾值|且|b-預設閾值|≤d≤|b+預設閾值|,則第n根掃查回波數據線和第m根掃查回波數據線符合預設法則;
顯示相對應的提示信息。
2.根據權利要求1所述的超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,與所述一區域缺陷的最大波束回波能量對應的掃查回波數據點的深度為所述一區域缺陷的深度。
3.根據權利要求1所述的超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,所述將比較結果符合預設法則的掃查回波數據線歸為一區域缺陷之后,顯示相對應的提示信息之前,還包括:
確定所述一區域缺陷的最大波束回波能量對應的掃查回波數據點、角度線和所述角度線對應的角度;
以最大波束回波能量對應的掃查回波數據點為起點,若在增大所述角度的方向上波束回波能量逐步降低至最大波束回波能量的1/2,且在減小所述角度的方向上波束回波能量逐步降低至最大波束回波能量的1/2,則判斷該一區域缺陷為一獨立缺陷;
以最大波束回波能量對應的掃查回波數據點為起點,若在增大所述角度的方向上波束回波能量逐步降低至大于所述最大波束回波能量的1/2后波束回波能量繼續增加,且在減小所述角度的方向上波束回波能量逐步降低至大于所述最大波束回波能量的1/2后波束回波能量繼續增加,則判斷該一區域缺陷為一連續缺陷。
4.根據權利要求3所述的超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,所述判斷該一區域缺陷為一獨立缺陷之后,還包括:
將在增大所述角度的方向上波束回波能量為最大波束回波能量的1/2對應的掃查回波數據點標記為上沿掃查回波數據點,將在減小所述角度的方向上波束回波能量為最大波束回波能量的1/2對應的掃查回波數據點標記為下沿掃查回波數據點;
所述上沿掃查回波數據點和下沿掃查回波數據點之間的縱向距離為所述一獨立缺陷的高度;
所述上沿掃查回波數據點和下沿掃查回波數據點之間的橫向距離為所述一獨立缺陷的寬度。
5.根據權利要求3所述的超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,所述判斷該一區域缺陷為一連續缺陷之后,還包括:
將在增大所述角度的方向上所述波束回波能量繼續增加至第一最強波束回波能量對應的掃查回波數據點標記為上沿掃查回波數據點,將在減小所述角度的方向上所述波束回波能量繼續增加至第二最強波束回波能量對應的掃查回波數據點標記為下沿掃查回波數據點;
所述上沿掃查回波數據點和下沿掃查回波數據點之間的縱向距離為所述一連續缺陷的高度;
所述上沿掃查回波數據點和下沿掃查回波數據點之間的橫向距離為所述一連續缺陷的寬度。
6.根據權利要求1所述的超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,所述預設標準波束回波能量閾值為利用超聲波相控陣波束對超聲波探傷試塊作掃查獲得的波束回波能量的80%,所述預設間距閾值為0.01mm,所述預設閾值為1mm。
7.根據權利要求1所述的超聲波相控陣檢測的方法,其特征在于,所述每條角度線包括640、320或160個掃查回波數據點,所述角度線的條數=|初始角度線對應的角度-終止角度線對應的角度|/角度分辨率。
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