[發明專利]射束監視系統以及粒子束照射系統

在審

• 申請號: 201410377913.5
• 申請日: 2014-08-04
• 公開（公告）號: CN104338244A
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發明（設計）人: 堀能士;森山國夫;巖本朋久;田所昌宏
• 申請（專利權）人: 株式會社日立制作所
• 主分類號: A61N5/10
• 分類號: A61N5/10
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;曹鑫

1.一種射束監視系統，其特征在于，具備：

對通過的帶電粒子束進行檢測的收集電極，其具有多個將相鄰的多個電極絲作為一個組的上述組，該組被分割為由相鄰的多個上述電極絲構成的分區，屬于某分區的各個上述電極絲與屬于其他組的分區的任意一個上述電極絲分別通過同一布線以在每個組中不同的方式置換地連接，使得至少2個通道在物理上不連續；

信號處理裝置，其根據與計劃的射束照射目標位置信息相關聯的信息和上述置換連接的信息，對從上述電極絲輸出的檢測信號進行排序并作為處理信號來輸出；以及

射束監視控制裝置，其根據從上述信號處理裝置輸出的處理信號，計算通過了上述電極絲的帶電粒子束的射束位置和射束寬度。

2.根據權利要求1所述的射束監視系統，其特征在于，

上述射束監視控制裝置判定根據來自上述信號處理裝置的處理信號求出的射束分布的擬合函數和實測值之間的每個通道的偏差是否是允許值以下，在判定為上述偏差是允許值以下時判斷為適當的照射，在上述偏差比允許值大時判斷為不適當的照射，輸出警告用信號。

3.根據權利要求2所述的射束監視系統，其特征在于，

作為根據來自上述信號處理裝置的處理信號求出的射束分布的擬合函數和實測值之間的每個通道的偏差，上述射束監視控制裝置計算差值、或差值的和、或差值的平方和的方差值的至少任意一個。

4.一種射束監視系統，其特征在于，具備：

對通過的帶電粒子束進行檢測的收集電極，其具有多個將相鄰的多個電極絲作為一個組的上述組，該組被分割為由相鄰的多個上述電極絲構成的分區，屬于某分區的各個上述電極絲與屬于其他組的分區的任意一個上述電極絲分別通過同一布線以在每個組中不同的方式置換地連接；

射束監視控制裝置，其作為接受從該收集電極的上述電極絲輸出的檢測信號來進行信號處理的信號處理裝置，根據從上述電極絲輸出的檢測信號，實施對針對全部射束位置可取的分區的組合的全部排序，將對各個分區的組合的差值、差值和、或差值的平方和的方差值的至少任意一個的計算結果為允許值以下并且最小的情況判斷為實際照射位置，計算通過了上述電極絲的帶電粒子束的射束位置和射束寬度。

5.一種粒子束照射系統，其特征在于，

具備權利要求1所述的射束監視系統。

6.一種粒子束照射系統，其特征在于，

具備權利要求2所述的射束監視系統。

7.一種粒子束照射系統，其特征在于，

具備權利要求3所述的射束監視系統。

8.一種粒子束照射系統，其特征在于，

具備權利要求4所述的射束監視系統。