[發(fā)明專利]半導體裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201410376732.0 | 申請日: | 2014-08-01 |
| 公開(公告)號: | CN104465742B | 公開(公告)日: | 2017-05-31 |
| 發(fā)明(設計)人: | 齋藤尚史;蔵口雅彥;杉山仁 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | H01L29/778 | 分類號: | H01L29/778;H01L29/205 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司72002 | 代理人: | 徐殿軍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 | ||
相關申請的交叉引用
本申請享受以日本專利申請2013-192416號(申請日:2013年9月17日)為基礎申請的優(yōu)先權。本申請通過參照該基礎申請包括基礎申請的全部內容。
技術領域
實施方式一般涉及半導體裝置。
背景技術
作為下一代的功率半導體設備用的材料,期待GaN(氮化鎵)類半導體。GaN類半導體的設備具備比Si(硅)寬的帶隙,與Si的設備相比能夠實現(xiàn)高耐壓、低損失。
GaN類半導體的晶體管中,一般采用以二維電子氣(2DEG)為載流子的HEMT(High Electron Mobility Transistor,高電子遷移率晶體管)。但是,通常的HEMT為不對柵極施加電壓也導通的常開啟的晶體管。因此,存在難以實現(xiàn)只要不對柵極施加電壓就不導通的常關斷的晶體管的問題。尤其難以實現(xiàn)閾值電壓高的常關斷晶體管。
發(fā)明內容
本發(fā)明要解決的課題在于提供能夠實現(xiàn)閾值電壓高的常關斷的半導體裝置。
實施方式的半導體裝置具備:第1GaN類半導體的第1半導體層;第2GaN類半導體的第2半導體層,設置在第1半導體層的上方,帶隙比第1GaN類半導體小;第3GaN類半導體的第3半導體層,設置在第2半導體層的上方,帶隙比第2GaN類半導體大;第4GaN類半導體的第4半導體層,設置在第3半導體層的上方,帶隙比第3GaN類半導體小;第5GaN類半導體的第5半導體層,設置在第4半導體層的上方,帶隙比第4GaN類半導體大;柵極絕緣膜,設置在第3半導體層、第4半導體層、以及第5半導體層上;源極電極,設置在柵極絕緣膜上;以及漏極電極,在第5半導體層上,相對于源極電極設置在柵極電極的相反側。
根據(jù)上述結構,可提供能夠實現(xiàn)閾值電壓高的常關斷的半導體裝置。
附圖說明
圖1是表示第1實施方式的半導體裝置的結構的示意截面圖。
圖2是表示第1實施方式的半導體裝置的閾值電壓的上升效果的圖。
圖3是第1實施方式的半導體裝置的作用以及效果的說明圖。
圖4是表示HEMT的阻擋層的組分及膜厚與二維電子氣密度的關系的圖。
圖5是表示第2實施方式的半導體裝置的結構的示意截面圖。
圖6是表示第3實施方式的半導體裝置的結構的示意截面圖。
圖7是表示第4實施方式的半導體裝置的結構示意截面圖。
具體實施方式
本說明書中,“GaN類半導體”是具備GaN(氮化鎵)、AlN(氮化鋁)、InN(氮化銦)以及它們的中間組分的半導體的總稱。
此外,本說明書中,“溝道區(qū)域”意味著通過對柵極電極施加的偏壓而電勢被主動地控制、且載流子的密度發(fā)生變化的半導體區(qū)域。此外,本說明書中,“存取(access)區(qū)域”意味著源極電極―柵極電極間、以及柵極電極-漏極電極間的載流子流動的半導體區(qū)域。
此外,本說明書中,“上方”、“下方”是表示構成要素的相對位置關系的用語,并不一定是以重力方向為基準的用語。
(第1實施方式)
本實施方式的半導體裝置具備:第1GaN類半導體的第1半導體層;第2GaN類半導體的第2半導體層,設置在第1半導體層的上方,帶隙比第1GaN類半導體小;第3GaN類半導體的第3半導體層,設置在第2半導體層的上方,帶隙比第2GaN類半導體大;第4GaN類半導體的第4半導體層,設置在第3半導體層的上方,帶隙比第3GaN類半導體小;第5GaN類半導體的第5半導體層,設置在第4半導體層的上方,帶隙比第4GaN類半導體大;柵極絕緣膜,設置在第3半導體層、第4半導體層、以及第5半導體層上;柵極電極,隔著柵極絕緣膜設置在第3半導體層、第4半導體層、以及第5半導體層之間;源極電極,設置在第5半導體層上;漏極電極,在第5半導體層上,相對于源極電極設置在柵極電極的相反側。
圖1是表示本實施方式的半導體裝置的結構的示意截面圖。本實施方式的半導體裝置是使用了GaN類半導體的橫向晶體管。
本實施方式的晶體管100具備:基板10、形成在基板10上的緩沖層12、形成在緩沖層12上的第1半導體層14、形成在第1半導體層14上的第2半導體層16、形成在第2半導體層16上的第3半導體層18、形成在第3半導體層18上的第4半導體層20、以及形成在第4半導體層20上的第5半導體層22。
基板10例如由硅(Si)構成。除了硅以外,例如還能夠使用藍寶石(Al2O3)、碳化硅(SiC)。
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H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結耗盡層或載流子集結層的電容器或電阻器;半導體本體或其電極的零部件
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H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
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H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





