[發明專利]基于均勻阻抗模型的BIS系統驗證方法有效
| 申請號: | 201410376551.8 | 申請日: | 2014-08-01 |
| 公開(公告)號: | CN104083169B | 公開(公告)日: | 2019-03-05 |
| 發明(設計)人: | 費智勝;徐現紅;戴濤;蒲洋;向飛;王奕剛;高松;卜力寧 | 申請(專利權)人: | 思瀾科技(成都)有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/053 | 分類號: | A61B5/053 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610041 四川省成都市高新區益州*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 均勻 阻抗 模型 bis 系統 驗證 方法 | ||
1.一種基于均勻阻抗模型的BIS系統驗證方法,具體步驟包括:
根據系統中信號采集電極的排列方式選擇連接點;
當電極排列方式為等間距的四邊形或“一”字形的四電極模型時,選擇復阻抗電路板上等距的連接點作為四個測量點;所述復阻抗電路板包括基板和設置于基板上的均勻阻抗模型,所述均勻阻抗模型由相同的多個復阻抗網絡式連接而成,所述復阻抗網絡式連接為所述復阻抗間的連接點至少包括五個且均勻分布于同一基板平面上,其中一連接點位于基板中心,其他連接點分別以四個連接點為單元且與位于基板中心處的連接點呈中心對稱的圓周排布;
通過復阻抗電路板上仿真電路模擬四個測量點間不同激勵方式,測出該電路在不同頻率下的阻抗值;
將測得仿真電路的阻抗值與BIS系統測量的實際阻抗值進行對比驗證。
2.根據權利要求1所述的BIS系統驗證方法,其特征在于,每個單元的四個連接點分別位于正方形的各頂點處。
3.根據權利要求1所述的BIS系統驗證方法,其特征在于,每個單元的連接點連接構成的幾何圖形間相互呈平行態。
4.根據權利要求3所述的BIS系統驗證方法,其特征在于,每個單元間相鄰連接點連接構成等腰梯形,在每個等腰梯形的其中一條對角線上均設置一復阻抗,且設置有復阻抗的所有對角線傾斜方向為同向旋轉。
5.根據權利要求1所述的BIS系統驗證方法,其特征在于,當電極排列方式為等間距四邊形的四電極模型時,選擇連接點為A、B、C、D或E、F、G、H或I、L、J、K連接構成的正方形的四個測量點。
6.根據權利要求1所述的BIS系統驗證方法,其特征在于,當電極排列方式為等間距“一”字形的四電極模型時,選擇連接點為E、A、C、G或I、A、C、K連接構成直線形的四個測量點。
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