[發(fā)明專利]一種獲取共反射面元疊加參數(shù)的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410374384.3
• 申請日: 2014-07-31
• 公開（公告）號: CN105301648A
• 公開（公告）日: 2016-02-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李棟;王立歆;徐兆濤;胡光輝;劉志成;孔祥寧;何英
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油物探技術(shù)研究院
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G06F19/00
• 代理公司: 北京聿宏知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11372
• 代理人: 朱繪;張文娟

1.一種獲取共反射面元疊加參數(shù)的方法，其特征在于，所述方法包含以下步驟：

步驟一，獲取地震數(shù)據(jù)；

步驟二，基于所述地震數(shù)據(jù)進行共中心點疊加從而得到零偏移距剖面；

步驟三，基于所述零偏移距剖面搜索有效同相軸，所述有效同相軸包括在同一零偏移距位置處相交的多個不同傾角的同相軸；

步驟四，根據(jù)所述有效同相軸得到與所述有效同相軸對應(yīng)的出射角，從而根據(jù)所述出射角計算法向波的波前曲率半徑以及法向入射點波的波前曲率半徑。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括步驟五，基于共反射面元超道集優(yōu)化所述出射角、所述法向波的波前曲率半徑、所述法向入射點波的波前曲率半徑。

3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟三中，從所述零偏移距剖面上各點中篩選出有效成像點，從而搜索出與所述有效成像點對應(yīng)的所述有效同相軸。

4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在步驟三中，利用相干分析得到對應(yīng)于所述零偏移距剖面上各點的全局最大相干值，確定與所述全局最大相干值對應(yīng)的閾值，基于所述閾值以及所述全局最大相干值篩選出所述有效成像點。

5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，在步驟三中，基于下述規(guī)則篩選所述有效成像點：

所述有效成像點對應(yīng)的全局最大相干值大于所述閾值。

6.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，在步驟三中，利用所述相干分析得到對應(yīng)于同一所述有效成像點的多個局部最大相干值，篩選所述局部最大相干值從而得到有效局部最大相干值，基于所述有效局部最大相干值搜索對應(yīng)于所述有效成像點的有效同相軸。

7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，在步驟三中，基于下述規(guī)則篩選所述局部最大相干值：

所述有效局部最大相干值大于相應(yīng)的所述閾值；

同一有效成像點對應(yīng)的不同的有效局部最大相干值之間的差值大于特定值。

8.如權(quán)利要求1-7中任一項所述的方法，其特征在于，在步驟四中，基于所述有效同相軸確定與所述有效同相軸對應(yīng)的中心射線，進而獲取所述中心射線在地表處的出射角。

9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，在步驟四中，基于所述出射角進行雙曲零偏移距疊加從而得到與所述有效同相軸對應(yīng)的法向波的波前曲率半徑。

10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，在步驟四中，基于共炮點/共接收點道集利用所述出射角和所述法向波的波前曲率半徑計算與所述有效同相軸對應(yīng)的法向入射點波的波前曲率半徑。