[發明專利]全景圖像獲得方法、處理3D數字容積的裝置和計算機介質

有效

• 申請號: 201410373538.7
• 申請日: 2014-07-31
• 公開（公告）號: CN104337543B
• 公開（公告）日: 2018-12-04
• 發明（設計）人: G·祖卡特利
• 申請（專利權）人: 塞弗拉合作社
• 主分類號: A61B6/14
• 分類號: A61B6/14;G06T11/00
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 呂俊剛;劉久亮

1.一種用于獲得與通過X射線發射從患者所獲得的全景射線照相類似的全景圖像的方法，所述方法以體素處理采集的3D數字容積(1)，每個體素具有X射線吸收的值，所述方法包括以下步驟：

a)選擇3D數字容積(1)中的曲面(2)；

b)標識所述曲面(2)上的多個第一點(3)并且將被標識的第一點(3)中的每個點與待獲得的全景圖像的對應像素關聯，以將所述曲面(2)的所述第一點(3)映射在所述全景圖像的對應像素上；

特征在于，

c)針對所述第一點(3)中的每個被標識點(P)，使穿過所述被標識點(P)的相應集合的線(4)相關聯，每條線都具有不同的入射角，所述入射角被定義為所述相應集合的線(4)中的線和垂直于所述曲面(2)并且穿過所述被標識點(P)的線(X)之間的角，所述線被包含在以所述被標識點(P)作為頂點的立體角(5)中；

d)計算在所述3D數字容積(1)中沿著所述線中的每條線的吸收；

e)把計算為針對所述集合(4)的所述線中的每條線所計算的所有吸收的函數的吸收值歸因于所述第一點(3)中的所述被標識點(P)；

f)將被計算為所述被標識點(P)的吸收值的函數的以灰度表達的值歸因于與所述第一點(3)中的所述被標識點(P)關聯的所述像素。

2.根據權利要求1的方法，其中，在所述步驟c)中使相應集合的線(4)相關聯包括：針對每個被標識點(P)和/或針對所述曲面的確定區域，適當地選擇所述集合(4)中的預定數目的所述線和每條線的特定入射角，以變化所述全景圖像的質量特征。

3.根據權利要求1或2的方法，其中，在所述步驟d)中針對每條線計算在所述3D數字容積中沿著該相同線的吸收包括：

d1)選擇所述3D數字容積(1)中的所述相同線的一組第二點；

d2)針對所述相同線的所述第二點中的每個選擇點，個別化圍繞所述每個選擇點的體素；

d3)計算所述圍繞的體素的吸收值的加權平均；

d4)將等于所述加權平均的吸收值歸因于所述第二點中的所述選擇點；

d5)對針對所述第二點中的每個點所計算的所有吸收值求和，賦予所述吸收值依賴于到作為預定點的所述被標識點(P)的距離的權重，并且將所述和歸因于所述相同線作為3D數字容積中的吸收。

4.根據權利要求3的方法，其中，在所述步驟d3)中計算所述圍繞的體素的吸收值的加權平均包括：

-針對具有相應中心的所述圍繞的體素中的每個體素，考慮在所述中心的對應中的相應的吸收值；

-評估所述中心與所述第二點中的所述選擇點之間的相應距離；

-對與從所述體素的所述中心到所述第二點中的所述選擇點的所述距離的系數函數相乘的每個體素的每個吸收值求和。

5.根據權利要求1的方法，其中，在所述步驟e)中將吸收值歸因于所述第一點(3)中的所述被標識點(P)包括計算所述集合(4)的所述線的吸收值的加權平均。

6.根據權利要求5的方法，其中，計算所述加權平均包括對與所述入射角的系數函數相乘的所述集合(4)中的每條線的所述吸收值求和。

7.根據權利要求1的方法，其中，在所述步驟a)中選擇3D數字容積(1)中的曲面(2)包括：

-允許人類操作員通過適合的圖形界面來執行所述選擇；

-和/或通過搜索特有解剖特征的算法來自動地選擇所述曲面(2)；

-和/或使用所述曲面(2)的預定形狀。

8.根據權利要求1的方法，其中，在所述步驟b)中標識所述曲面上的多個所述第一點(3)包括：

b1)用預定表面執行所述曲面的截斷；

b2)獲得在所述曲面(2)和所述預定表面之間的相交線(6)，以及標識所述相交線(6)中的所述多個第一點(3)。

9.根據權利要求8的方法，其中，所述3D數字容積(1)具有縱軸(A)，并且其中，在所述步驟b1)中執行所述截斷包括使用與所述縱軸正交的平行平面來獲得所述3D數字容積的軸向截面。