[發明專利]一種顯示基板的檢測方法及裝置

在審

• 申請號: 201410371018.2
• 申請日: 2014-07-30
• 公開（公告）號: CN104155781A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發明（設計）人: 方鑫;王賀;羅鵬;陳忠;鄧中國
• 申請（專利權）人: 合肥鑫晟光電科技有限公司;京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，特別是涉及一種顯示基板的檢測方法及裝置。

背景技術

液晶顯示器的主體結構為液晶面板，液晶面板包括彩膜基板和陣列基板，在彩膜基板或陣列基板上形成規則排列的隔墊物(包括主隔墊物和輔助隔墊物)，用于支撐面板的盒厚，并保證液晶面板盒厚的均一性。

由于在隔墊物工藝存在隔墊物異物和隔墊物缺失等問題，嚴重影響隔墊物的良率，因此需要對隔墊物進行檢查?，F有技術中，對于隔墊物的檢測主要是通過CCD(Charge-coupled?Device，即電荷耦合元件)鏡頭獲取隔墊物的圖像，之后再獲取5個隔墊物采樣點的灰度值，并根據這些灰度值來對隔墊物進行檢測。具體的，如圖9所示，采集5個隔墊物采樣點的灰階為A1，A2，A3，A4，A5。其中A2，A3，A4，A5為參考點，A1為比較點，A2，A3，A4，A5為與A1相同類型的隔墊物，并位于A1四周且與A1相鄰。取上述5個點中間值，假設這5點的灰階大小關系為：A2<A3<A5<A4<A1。則中間值為：A5。當|A1-A5|>Threshold?Value(閾值)時，A1點為缺陷點。當|A1-A5|<Threshold?Value時，A1點為正常點。但是，當存在大范圍面積的隔墊物缺失時，將無法檢出。

因此，大范圍面積的隔墊物缺失，甚至隔墊物排列偏移其標準位置，都會導致隔墊物的檢測存在很大的漏檢和誤檢，而且隔墊物的缺失對液晶面板的穩定性有較大影響，因此需對隔墊物是否缺失進行檢測。現有技術中，并沒有針對隔墊物的缺失或偏移其標準位置進行檢測的方法。

發明內容

本發明提供一種顯示基板的檢測方法及裝置，用以對顯示基板上隔墊物的缺失進行檢測。

為解決上述技術問題，本發明提供一種顯示基板的檢測方法，所述顯示基板上形成有按預設規則分布的隔墊物，所述檢測方法包括對隔墊物進行檢測的步驟，其中，所述對隔墊物進行檢測的步驟包括：

采集顯示基板的第一圖像，所述第一圖像中具有按所述預設規則分布的隔墊物圖像，相鄰的第一隔墊物圖像和第二隔墊物圖像中，所述第一隔墊物圖像包括第一設定點p₁，所述第二隔墊物圖像包括第二設定點p₂；

獲取第一設定點p₁和第二設定點p₂之間的距離；

將所述距離與預設的距離進行比較，確定第一隔墊物和第二隔墊物之間是否缺失隔墊物。

如上所述的檢測方法，優選的是，獲取第一設定點p₁和第二設定點p₂之間的距離具體為：

在所述第一圖像中建立第一平面坐標系，所述第一設定點p₁和第二設定點p₂位于所述第一平面坐標系內，根據第一設定點p₁和第二設定點p₂在所述第一平面坐標系內的坐標，來計算第一設定點p₁和第二設定點p₂之間的距離。

如上所述的檢測方法，優選的是，所述第一設定點p₁在所述第一平面坐標系內的坐標為(x₁，y₁)，所述第二設定點p₂在所述第一平面坐標系內的坐標為(x₂，y₂)；

當|y_n-y₁|≤D₁，且|y_n-y₂|≤D₁時，設定所述第一設定點p₁和第二設定點p₂在所述第一平面坐標系內的預設縱坐標為y_n，第一設定點p₁和第二圖像點設定點p₂的實際距離用D₂＝|x₁-x₂|表示，其中，n為正整數；

設定第一設定點p₁和第二設定點p₂的預設距離為D，第一設定點p₁和第二設定點p₂偏移其預設橫坐標的最大距離為iD，其中，i≤1/6；

當第一隔墊物和第二隔墊物與顯示基板的邊緣均有隔墊物時，則：

1)當D₂≤D時，第一隔墊物和第二隔墊物之間不缺失隔墊物；