[發明專利]觸摸檢測電路、觸摸檢測方法及電子設備

有效

• 申請號: 201410370405.4
• 申請日: 2014-07-30
• 公開（公告）號: CN104346016B
• 公開（公告）日: 2018-11-02
• 發明（設計）人: 鷹嘴和邦
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 余剛;吳孟秋

1.一種觸摸檢測電路，包括：

映射生成部，被配置為將與外部接近物體的接近狀態對應的觸摸信號和多個閾值中的每一個比較，以生成均示出觸摸區的多個映射數據；

標記部，被配置為基于所述多個映射數據之間的所述觸摸區的包含關系，在所述多個映射數據中的所述觸摸區上選擇性地進行標記；以及

檢測部，被配置為基于所述標記部的處理結果執行觸摸檢測，其中，所述標記部通過以下步驟生成表示所述觸摸區和標記之間的對應的第一標記組：

向每一個映射數據中的各個觸摸區提供所述標記，以及

從所述多個映射數據順次選擇與彼此相鄰的兩個閾值對應的兩個映射數據，并基于已選的所述兩個映射數據中的所述觸摸區的所述包含關系替換所述標記。

2.根據權利要求1所述的觸摸檢測電路，進一步包括：

閾值設定部，被配置為基于所述觸摸信號設定所述多個閾值。

3.根據權利要求1所述的觸摸檢測電路，其中，所述檢測部檢測觸摸事件的數目和觸摸位置。

4.根據權利要求1所述的觸摸檢測電路，其中，所述標記部通過以下步驟生成所述第一標記組：

當已選的所述兩個映射數據中的對應于低閾值的低階映射數據中的一個觸摸區包括對應于高閾值的高階映射數據中的多個觸摸區時，用與所述低階映射數據中的所述一個觸摸區的標記相同的標記替換所述高階映射數據中的所述多個觸摸區中的一個的標記，以及

當已選的所述兩個映射數據中的所述低階映射數據中的一個觸摸區包括所述高階映射數據中的單個觸摸區時，用與所述一個觸摸區的標記相同的標記替換所述單個觸摸區的標記。

5.根據權利要求1所述的觸摸檢測電路，其中，所述標記部通過在生成所述第一標記組后，從所述多個映射數據順次選擇與彼此相鄰的兩個閾值對應的兩個映射數據，并且當已選的所述兩個映射數據中的對應于低閾值的低階映射數據中的一個觸摸區包括對應于高閾值的高階映射數據中的多個觸摸區時，移除所述第一標記組中的所述一個觸摸區的標記，來生成第二標記組。

6.根據權利要求1所述的觸摸檢測電路，其中，所述標記部從對應于高閾值的映射數據開始依次選擇所述兩個映射數據。

7.根據權利要求6所述的觸摸檢測電路，其中，所述標記部通過以下步驟生成所述第一標記組：

當所選的所述兩個映射數據中的對應于低閾值的低階映射數據中的一個觸摸區包括對應于高閾值的高階映射數據中的多個觸摸區時，用虛標記替換所述一個觸摸區的標記，以及

當所選的所述兩個映射數據中的所述低階映射數據中的一個觸摸區包括所述高階映射數據中的單個觸摸區時，用與所述單個觸摸區的標記相同的標記替換所述一個觸摸區的標記。

8.根據權利要求7所述的觸摸檢測電路，其中，所述標記部通過在生成所述第一標記組后從所述第一標記組移除所述虛標記，來生成第二標記組。

9.一種觸摸檢測電路，包括：

映射生成部，被配置為將與外部接近物體的接近狀態對應的觸摸信號和多個閾值中的每一個比較，以生成均示出觸摸區的多個映射數據；

標記部，被配置為基于所述多個映射數據之間的所述觸摸區的包含關系，在所述多個映射數據中的所述觸摸區上選擇性地進行標記；以及

檢測部，被配置為基于所述標記部的處理結果執行觸摸檢測，

其中，所述標記部通過從所述多個映射數據順次選擇與彼此相鄰的兩個閾值對應的兩個映射數據，并基于所選的所述兩個映射數據中的所述觸摸區的包含關系向每一個所述映射數據中的各個觸摸區提供標記，來生成表示所述觸摸區和標記之間的對應的第一標記組。

10.根據權利要求9所述的觸摸檢測電路，其中，所述標記部從對應于低閾值的映射數據開始依次選擇所述兩個映射數據。