[發(fā)明專利]半導體元件模塊和柵極驅動電路

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201410369596.2
• 申請日: 2014-07-30
• 公開（公告）號: CN104348338A
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發(fā)明（設計）人: 三浦亮太郎;后藤崇
• 申請（專利權）人: 株式會社電裝
• 主分類號: H02M1/08
• 分類號: H02M1/08
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;王英

1.一種半導體元件模塊(1、21、31)，包括：

驅動元件(2)，其由電壓驅動半導體元件形成；以及

電壓變化檢測元件(3)，其由電壓驅動半導體元件形成，并且檢測所述驅動元件的集電極與發(fā)射極之間或漏極與源極之間的電壓的變化，其中

所述電壓變化檢測元件的集電極或漏極連接到所述驅動元件的所述集電極或所述漏極，并且所述電壓變化檢測元件的柵極連接到所述電壓變化檢測元件的發(fā)射極或源極，并且

所述電壓變化檢測元件的所述發(fā)射極或所述源極被提供作為檢測端子(S)。

2.根據(jù)權利要求1所述的半導體元件模塊(21)，還包括：

電流檢測元件(22)，其由電壓驅動半導體元件形成，其中

所述電流檢測元件的集電極或漏極以及柵極分別連接到所述驅動元件的所述集電極或所述漏極以及所述柵極，并且所述電流檢測元件的發(fā)射極或源極連接到所述檢測端子。

3.根據(jù)權利要求1所述的半導體元件模塊(31)，還包括：

電流檢測元件，其由電壓驅動半導體元件形成，其中

所述電流檢測元件的集電極或漏極以及柵極分別連接到所述驅動元件的所述集電極或所述漏極以及所述柵極，并且所述電流檢測元件的發(fā)射極或源極連接到電流檢測端子(IS)。

4.一種柵極驅動電路(9、11)，與根據(jù)權利要求1-3中的任意一項所述的半導體元件模塊連接，并向所述驅動元件的所述柵極傳送驅動信號，所述柵極驅動電路包括：

檢測電阻器(R1)，其連接在所述檢測端子與所述驅動元件的所述發(fā)射極或所述源極之間；

開關速度可變部分(7、8、R2、R3、12)，其能夠改變所述驅動元件的開關速度；以及

開關速度控制部分(6、13)，其控制所述開關速度可變部分，從而當開始關斷所述驅動元件時，將所述開關速度設置為高，并且當檢測到所述檢測電阻元件的端子電壓的變化時，將所述開關速度設置為低。

5.根據(jù)權利要求4所述的柵極驅動電路(9)，其中

所述開關速度可變部分通過改變所述驅動元件的柵極電阻值來改變所述開關速度。

6.根據(jù)權利要求4所述的柵極驅動電路(11)，其中

所述開關速度可變部分通過改變用于對所述驅動元件的所述柵極進行放電的電流量來改變所述開關速度。

7.一種半導體元件模塊(101、101A、114、131、141、151)，包括：

驅動元件(102)，其由電壓驅動半導體元件形成；以及

多個電壓變化檢測元件(103、104、142)，所述多個電壓變化檢測元件中的每一個電壓變化檢測元件由電壓驅動半導體元件形成，其中

所述電壓變化檢測元件串聯(lián)連接以形成串聯(lián)電路，

所述電壓變化檢測元件中的每一個電壓變化檢測元件的柵極連接到所述電壓變化檢測元件中的每一個電壓變化檢測元件的發(fā)射極或源極，

所述串聯(lián)電路與所述驅動元件并聯(lián)連接，并且

所述串聯(lián)電路中的至少一個公共連接點被提供作為用于檢測所述驅動元件的集電極與發(fā)射極或漏極與源極之間的電壓的變化的檢測端子。

8.根據(jù)權利要求7所述的半導體元件模塊(101)，還包括：

半導體襯底(111)，其上形成所述驅動元件和所述電壓變化檢測元件；以及

鑄模樹脂(113)，其將所述驅動元件、所述電壓變化檢測元件和所述半導體襯底密封到一個封裝中。

9.根據(jù)權利要求7所述的半導體元件模塊(114)，還包括：

第一半導體襯底(115)，其上形成所述驅動元件；

第二半導體襯底(116)，其上形成所述電壓變化檢測元件，所述第二半導體襯底與所述第一半導體襯底不同；以及

鑄模樹脂(113)，其將所述驅動元件、所述電壓變化檢測元件、所述第一半導體襯底、以及所述第二半導體襯底密封到一個封裝中。

10.根據(jù)權利要求7所述的半導體元件模塊(131)，還包括：

電壓變化檢測元件(132)，其與形成所述串聯(lián)電路的所述電壓變化檢測元件中的至少一個電壓變化檢測元件并聯(lián)連接。

11.根據(jù)權利要求7所述的半導體元件模塊(151)，還包括：

連接在形成所述串聯(lián)電路的所述電壓變化檢測元件之間的電阻元件(152)或二極管。