[發(fā)明專利]一種光纖故障老化模型的建立方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201410367402.5
• 申請日: 2014-07-29
• 公開（公告）號: CN104158585A
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王賢亮;陳弟全;何圣偉;姜元帥;梁健;王毅;周喆旻;謝一
• 申請（專利權(quán)）人: 國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)重慶市電力公司綦南供電分公司
• 主分類號: H04B10/07
• 分類號: H04B10/07;G06F19/00;G01M11/00
• 代理公司: 北京同恒源知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11275
• 代理人: 趙榮之

1.一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：包括以下步驟：首先分析影響光纖可靠性環(huán)境的參數(shù)指標(biāo)；再通過實(shí)驗(yàn)，獲取準(zhǔn)確、可靠的數(shù)據(jù)；然后利用回歸分析的方法，建立光纖的故障模型和光纖老化預(yù)測模型。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：所述實(shí)驗(yàn)主要分為兩部分，接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)與非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)；接續(xù)損耗主要包括進(jìn)行熔接損耗實(shí)驗(yàn)與連接器損耗實(shí)驗(yàn)；非接續(xù)損耗實(shí)驗(yàn)主要包括進(jìn)行彎曲損耗實(shí)驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸水實(shí)驗(yàn)和濕熱實(shí)驗(yàn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：建立光纖鏈路損耗和其故障之間的故障模型，采用在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展對光纖在工程中的熔接點(diǎn)、連接器等造成的光纖鏈路損耗；通過累計(jì)的熔接點(diǎn)、連接器的數(shù)量等參數(shù)與通信鏈路間的損耗分析，對光纖通信鏈路的故障以及接續(xù)損耗瓶頸節(jié)點(diǎn)做出判斷；然后，根據(jù)設(shè)備廠商所提供的產(chǎn)品資料以及實(shí)際運(yùn)行數(shù)據(jù)對可靠性模型進(jìn)行修正，以進(jìn)一步提高模型的準(zhǔn)確性；進(jìn)而為實(shí)際工程中光纖故障的判斷提供理論依據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：所述老化模型的建立包括分析電力光纖在受到各種環(huán)境因素的影響造成的老化，通過研究分析、梳理導(dǎo)致光纜老化的因素和技術(shù)指標(biāo)，在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下開展溫度、溫濕度、浸水、濕熱、干熱等光纖老化實(shí)驗(yàn)，將采用數(shù)學(xué)分析模型，對上述諸多因素進(jìn)行量化，建立起老化因素和老化程度之間的光纖老化模型，提出一套簡單、實(shí)用的光纖可靠性和壽命的評判方法。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種光纖故障老化模型的建立方法，其特征在于：所述環(huán)境損耗實(shí)驗(yàn)包括以下五種實(shí)驗(yàn)：溫度實(shí)驗(yàn)、溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)、浸水實(shí)驗(yàn)、濕熱實(shí)驗(yàn)和干熱老化實(shí)驗(yàn)；

所述溫度實(shí)驗(yàn)包括：測量端通過光功率計(jì)對輸出的光進(jìn)行測量；采用烘箱作為加熱裝置；

采用溫度計(jì)來進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測光纖所處的環(huán)境溫度；把光纖放置好，其大部分都放到烘箱之中，只有輸入和輸出端各有很小的一段沒有得到加熱；

所述溫度-濕度循環(huán)實(shí)驗(yàn)包括在溫度的測試環(huán)境下，在提供的溫度范圍內(nèi)，增加98％的相對濕度來循環(huán)實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況；

所述浸水實(shí)驗(yàn)分為人工模擬滲水環(huán)境條件，在光纜外的保護(hù)套向光纜內(nèi)滲透進(jìn)行橫向滲透，在光纜保護(hù)層的局部破損或連接處進(jìn)行縱向滲透，測試光纖衰減趨勢；

所述濕熱實(shí)驗(yàn)包括在溫度測試環(huán)境下，在溫箱中提供85攝氏度和85％相對濕度，觀察時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況；

所述干熱老化實(shí)驗(yàn)包括在溫度測試環(huán)境下，在溫箱中提供85℃，觀察時(shí)間30天，實(shí)驗(yàn)光纖性能變化情況。